[发明专利]一种大相对孔径高光谱成像光学系统在审

专利信息
申请号: 202110614248.7 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113532644A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 王保华;唐绍凡;徐彭梅;王伟刚;王杰;张秀茜;陈龙;石峰;贺瑞聪;刘宇翔;王媛媛;刘志敏 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/04;G01J3/02;G01N21/3581;G01N21/35;G01N21/01
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 高志瑞
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 相对孔径 光谱 成像 光学系统
【说明书】:

发明公开了一种大相对孔径高光谱成像光学系统,包括:三狭缝组件、平面折转镜、第一透镜、第二透镜、第三透镜、凹面光栅和像面,三狭缝组件用于提升长波红外辐射的入射能量,提高高光谱成像系统的信噪比。目标辐射的长波红外谱段经三狭缝组件入射到平面折转镜,依次经第一透镜、第二透镜和第三透镜透射后,由第三透镜后表面入射到凹面光栅,经凹面光栅色散分光后反射第三透镜后表面,依次经第三透镜、第二透镜和第一透镜透射后汇聚到像面处。本发明可实现长波红外谱段三狭缝狭缝同时高光谱成像,提升长波红外高光谱成像仪的信噪比,具有相对孔径大、狭缝长、体积小、成像质量好等优点,可用于星载、平流层飞艇和机载红外高光谱成像领域。

技术领域

本发明属于红外高光谱成像技术领域,尤其涉及一种大相对孔径高光谱成像光学系统。

背景技术

高光谱成像仪可同时获得目标的二维空间信息和一维光谱信息,长波红外高光谱成像不仅可以进行目标探测,还可以通过光谱成分识别实现定量化分析,在高精度温度反演、大气污染监测、地质灾害监测等方面应用需求迫切。目前,高光谱成像仪的工作谱段多集中在可见近红外谱段(0.4μm-1.0μm)和短波红外谱段(1.0μm-2.5μm),用于长波红外谱段的高光谱成像较少,且不能同时高光谱分辨率、高空间分辨率和高温度分辨率性能要求,传统的设计方法导致长波红外高光谱成像光学系统的体积较大,无法满足较小平台的使用要求。

发明内容

本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供了一种大相对孔径高光谱成像光学系统,具有能量利用率高、相对孔径大、狭缝长和体积小的特点,满足多种遥感应用需求。

本发明目的通过以下技术方案予以实现:一种大相对孔径高光谱成像光学系统,包括:三狭缝组件、平面折转镜、第一透镜、第二透镜、第三透镜、凹面光栅和像面;其中,目标辐射的长波红外同时经三狭缝组件入射到平面折转镜,经反射后入射到第一透镜,经第一透镜的前表面和后表面透射后入射到第二透镜,经第二透镜的前表面和后表面透射后入射到第三透镜,经第三透镜的前表面和后表面透射后入射到凹面光栅,经凹面光栅色散分光后反射到第三透镜的后表面,依次经第三透镜、第二透镜和第一透镜透射后成像到像面处。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述长波红外谱段范围为8μm~12.5μm,光谱分辨率为100nm。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述大相对孔径高光谱成像光学系统的相对孔径为1/2,空间放大倍率为1。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述三狭缝组件由3个相同的单通光狭缝装置平行排列组成;其中,每个单通光狭缝装置的长度为24mm,宽度为32μm;相邻单通光狭缝装置之间的间隔为1.6mm。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述平面折转镜的材料为铝,与入射光线成45°放置。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述第一透镜的材料为ZnS,所述第一透镜的前表面为六次非球面,所述第一透镜的后表面为球面。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述第二透镜的材料为ZnSe,所述第二透镜的前表面为六次非球面,所述第二透镜的后表面为球面。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述第三透镜的材料为ZnS,所述第三透镜的前表面为六次非球面,所述第三透镜的后表面为球面。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述凹面光栅表面刻蚀闪耀槽,并镀金膜。

上述大相对孔径高光谱成像光学系统中,所述像面由3个区域组成,每个区域的面积为24mm×1.44mm,三个区域之间的间隔为0.16mm。

本发明与现有技术相比具有如下有益效果:

(1)本发明具有能量利用率高、相对孔径大、狭缝长和体积小的特点,满足多种遥感应用需求;

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