[发明专利]一种TFT基板结构及其制备方法在审
申请号: | 202110613097.3 | 申请日: | 2021-06-02 |
公开(公告)号: | CN113327943A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 张桂瑜;许汉东;王强 | 申请(专利权)人: | 福建华佳彩有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1362 |
代理公司: | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 段惠存 |
地址: | 351100 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tft 板结 及其 制备 方法 | ||
1.一种TFT基板结构,其特征在于,包括玻璃基板,在所述玻璃基板的一侧面上依次层叠覆盖有栅极金属层、栅极绝缘层、有源层、蚀刻阻挡层、源漏极金属层、钝化层、第一缓冲层、第一金属层、第一绝缘层、第二缓冲层、共通电极层和第二绝缘层,所述蚀刻阻挡层上开设有第一过孔,所述第一过孔中填充有源漏极金属层,所述钝化层上开设有第二过孔,所述第一绝缘层上开设有第三过孔,所述第二缓冲层上开设有第四过孔,所述第二绝缘层上开设有第五过孔,所述第二过孔、第三过孔、第四过孔和第五过孔依次层叠设置且相通,所述第二过孔、第三过孔、第四过孔和第五过孔中均填充有画素电极层,所述第一绝缘层上开设有第六过孔,所述第六过孔中填充有第二缓冲层,所述第六过孔中填充的第二缓冲层上开设有第七过孔,所述第七过孔中填充有共通电极层。
2.根据权利要求1所述的TFT基板结构,其特征在于,所述第二缓冲层的厚度范围为
3.根据权利要求1所述的TFT基板结构,其特征在于,所述第一缓冲层的材质与第二缓冲层的材质均为SiNx。
4.根据权利要求1所述的TFT基板结构,其特征在于,所述第二过孔中填充的画素电极层与源漏极金属层接触。
5.根据权利要求1所述的TFT基板结构,其特征在于,所述第七过孔中填充的共通电极层与第一金属层接触。
6.一种权利要求1所述的TFT基板结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、提供一玻璃基板,在玻璃基板表面覆盖有栅极金属层;
S2、形成栅极绝缘层,且覆盖于所述栅极金属层表面;
S3、形成有源层,且覆盖于所述栅极绝缘层表面;
S4、形成蚀刻阻挡层,且覆盖于所述有源层表面;在所述蚀刻阻挡层中形成第一过孔;
S5、形成源漏极金属层,且覆盖于所述蚀刻阻挡层表面和填充于第一过孔中;
S6、形成钝化层,且覆盖于所述源漏极金属层表面;在所述钝化层中形成第二过孔;
S7、形成第一缓冲层,且覆盖于所述钝化层表面;
S8、形成第一金属层,且覆盖于所述第一缓冲层表面;
S9、形成第一绝缘层,且覆盖于所述第一金属层表面;在所述第一绝缘层中形成第三过孔和第六过孔;
S10、形成第二缓冲层,且覆盖于所述第一绝缘层表面和填充于第六过孔中;在所述第二缓冲层中形成第四过孔和第七过孔;
S11、形成共通电极层,且覆盖于所述第二缓冲层表面与填充于第七过孔中;
S12、形成第二绝缘层,且覆盖于所述第二缓冲层表面;在所述第二绝缘层中形成第五过孔;所述第二过孔、第三过孔、第四过孔和第五过孔依次层叠设置且相通;
S13、形成画素电极层,且覆盖于所述第二绝缘层表面与依次填充于第二过孔、第三过孔、第四过孔和第五过孔中。
7.根据权利要求6所述的TFT基板结构的制备方法,其特征在于,所述第二缓冲层的厚度范围为
8.根据权利要求6所述的TFT基板结构的制备方法,其特征在于,所述第一缓冲层的材质与第二缓冲层的材质均为SiNx。
9.根据权利要求6所述的TFT基板结构的制备方法,其特征在于,所述第二过孔中填充的画素电极层与源漏极金属层接触。
10.根据权利要求6所述的TFT基板结构的制备方法,其特征在于,所述第七过孔中填充的共通电极层与第一金属层接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的