[发明专利]图像校准方法和装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种图像校准方法，其特征在于，包括：

由预先设置的两种以上的校准模式中选取当前模式；其中，不同的所述校准模式对应标准图像在待检测图像中的不同截取方式；

基于所述当前模式，由所述待检测图像中截取所述标准图像，并使用所述标准图像、第一参考图像和第二参考图像分别进行匹配校准，得到所述待检测图像与所述第一参考图像的第一校准结果，以及所述待检测图像与所述第二参考图像的第二校准结果；

对所述第一校准结果和所述第二校准结果进行准确性判断；

在判断出所述第一校准结果和所述第二校准结果均不准确时，更换当前的校准模式，并基于更换后的校准模式对所述待检测图像、所述第一参考图像和所述第二参考图像进行匹配校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校准模式包括第一校准模式、第二校准模式和第三校准模式；

所述第一校准模式中所定义的所述标准图像在所述待检测图像中的截取方式为：由所述待检测图像中的中心截取；

所述第二校准模式中所定义的所述标准图像在所述待检测图像中的截取方式为：由所述待检测图像中的左下角截取；

所述第三校准模式中所定义的所述标准图像在所述待检测图像中的截取方式为：由所述待检测图像中的右上角截取。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述第一校准结果和所述第二校准结果进行准确性判断时，通过分别计算所述第一校准结果所对应的校准分数以及所述第二校准结果所对应的校准分数，并根据计算得到的所述校准分数进行判断。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，分别计算所述第一校准结果所对应的校准分数以及所述第二校准结果所对应的校准分数，包括：

基于所述第一校准结果和所述第二校准结果，对所述第一参考图像和所述第二参考图像进行平移矫正；

在所述待检测图像与所述第一参考图像的重叠区域，以及所述待检测图像与所述第二参考图像的重叠区域分别计算所述第一校准结果对应的校准分数以及所述第二校准结果对应的校准分数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，更换当前的校准模式之前，还包括：

判断所述当前模式是否为设定模式；

在判断出所述当前模式为所述设定模式时，由所述第一校准结果和所述第二校准结果中选取一个结果作为最终校准结果。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，在确定出所述第一校准结果和所述第二校准结果中存在一个结果准确时，包括：

对所述第一参考图像和所述第二参考图像进行匹配校准，得到所述第一参考图像与所述第二参考图像的第三校准结果；

判断所述第三校准结果是否准确；

在判断出所述第三校准结果准确时，根据所述第一校准结果和所述第二校准结果中准确的结果以及所述第三校准结果，计算得到另一校准结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述第一校准结果和所述第二校准结果中准确的结果以及所述第三校准结果，计算得到另一校准结果时，使用向量守恒规则进行推导计算。

8.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，对读取到的待检测图像、第一参考图像和第二参考图像进行匹配校准，得到所述待检测图像与所述第一参考图像的第一校准结果，以及所述待检测图像与所述第二参考图像的第二校准结果时，均采用NCC算法进行。