[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 202110598491.4 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113035858B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 彭博;孟怀宇;沈亦晨 | 申请(专利权)人: | 杭州光智元科技有限公司 |
主分类号: | H01L25/18 | 分类号: | H01L25/18;H01L23/498;H01L21/56;H01L21/60;G06E3/00 |
代理公司: | 北京三环同创知识产权代理有限公司 11349 | 代理人: | 赵勇;邵毓琴 |
地址: | 311121 浙江省杭州市余*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
本发明涉及光子集成电路领域,其提供了一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置包括设置在基板上的EIC芯片和PIC芯片,并且,所述EIC芯片位于所述PIC芯片与所述基板之间;其中,至少一个EIC芯片设置在单个PIC芯片的朝向所述基板的表面上,并且所述EIC芯片通过连接结构安装在所述基板上。本发明的半导体装置优化了PIC芯片的布线并能够抑制因布线过长导致的电压压降,优化了封装结构。
技术领域
本发明涉及光子集成电路领域,更为具体而言,涉及一种半导体装置及其制造方法。
背景技术
近年来,人工智能技术快速发展,其中涉及的某些神经网络算法需要进行大量矩阵运算。目前,已有提出用光子计算进行上述运算,光子计算以光作为信息的载体,通过光学器件/芯片实现光的传输、处理、计算等。
现有的一种实现光子计算系统的方案中,需要对电子集成电路(EIC)芯片、光子集成电路(PIC)芯片进行电连接,由于芯片较大,其中起到连接作用的线路较长。由于电阻的存在,电流流经长连接线路后产生电压压降不可忽略并导致额外功耗,压降过多还可能导致系统无法正常工作。此外,在诸如光子计算芯片等应用场景中,为了实现大量数据、信号的传输及电连接,EIC芯片、PIC芯片均具有多个连接点,大量连接点对应了大量的布线线路,这也进一步导致不必要的电压压降。另外,PIC芯片有时需要与外界具有光耦合,这对半导体装置整体的集成具有很大限制。
发明内容
本发明提供了一种半导体装置及其制造方法,其能够有效抑制电压压降,优化PIC芯片、EIC芯片之间的电连接,优化封装尺寸。
一方面,本发明的实施方式提供了一种半导体装置,其包括基板;光子集成电路(PIC)芯片;电子集成电路(EIC)芯片;所述EIC芯片位于所述PIC芯片与所述基板之间;其中,所述PIC芯片与所述EIC芯片进行电连接。
在本发明的一些实施方式中,所述PIC芯片包括PIC布线结构,所述EIC芯片包括EIC布线结构;在所述PIC芯片到所述基板的电连接路径中,包括先后经过所述PIC布线结构、所述EIC布线结构、所述基板的电连接路径。
在本发明的一些实施方式中,所述EIC芯片的周围的至少一部分设置有封装材料,所述封装材料中设置有过孔导电结构,在所述PIC芯片到所述基板的电连接路径中,包括经过所述过孔导电结构的电连接路径。
在本发明的一些实施方式中,所述半导体装置包括PIC再布线结构、第一键合结构、EIC再布线结构一、EIC再布线结构二、过孔导电结构、第二键合结构中的至少一个结构;并且,上述至少一个结构满足:
所述PIC布线结构到所述EIC布线结构的电连接路径中,先后经过PIC再布线结构、第一键合结构、EIC再布线结构一中的至少一个,和/或
所述EIC布线结构到所述基板的电连接路径中,先后经过EIC再布线结构二、过孔导电结构、第二键合结构中的至少一个。
在本发明的一些实施方式中,所述半导体装置包括至少两个EIC芯片,所述至少两个EIC芯片中,包括第一EIC芯片、第二EIC芯片,所述第一EIC芯片、第二EIC芯片之间具有封装材料,所述封装材料中设置至少一个过孔导电结构。在一些实施方式中,所述第一EIC芯片周围的具有两个以上的过孔导电结构,选取与其布线距离非最远的至少一个过孔导电结构进行连接。
在本发明的一些实施方式中,所述EIC芯片通过第一键合结构与所述PIC芯片连接。所述EIC芯片通过连接结构与所述基板连接,所述连接结构包括:与所述第一键合结构电连接的第一段连接结构、与所述第一段连接结构电连接的第二段连接结构、以及与所述第二段连接结构电连接的第二键合结构。其中,所述EIC芯片通过所述第二键合结构与所述基板连接。
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