[发明专利]一种提高X射线光子计数探测器计数特性的系统及方法

权利要求书

1.一种提高X射线光子计数探测器计数特性的系统，其特征在于包括恒温恒压器(1)、亚禁带光灯(2)、偏压控制器(4)、温度测试保温板(6)、温度控制器(8)和PC机；探测器位于恒温恒压器(1)内腔，探测器两端电极一端连接偏压控制器(4)，一端接地；恒温恒压器(1)的一侧设有观测窗口(3)，亚禁带光灯(2)位于观测窗口(3)上方且与探测器相对应；温度测试保温板(6)位于探测器下方，与温度控制器(8)电连接；温度控制器(8)和偏压控制器(4)与PC机电信号连接。

2.一种利用权利要求1所述系统提高X射线光子计数探测器计数特性的方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：对需要测试的X射线光子计数探测器进行计数率测试，

步骤2：探测器两端电极一端连接偏压控制器，一端连地；探测下面放置温度测试保温板，温度测试保温板与温度控制器相连，温度控制器和偏压控制器与PC机电信号连接；

步骤3：亚禁带光灯置于观测窗口上方，对探测器能够进行亚禁带光照射；

步骤4：以偏压控制器在-300～-600V负高压对探测器施加偏压，找出使探测器计数率提高最好的偏压；

步骤5：在步骤4选择偏压的条件下，对探测器在25～35℃的温度范围内进行计数测试，找出提高计数率最显著的工作温度；

步骤6：保持偏压和温度不变，在亚禁带光波长为1050nm～1550nm范围内对探测器进行亚禁带光照射，找出提高计数率最显著的亚禁带光波长和强度。