[发明专利]继电器触点组接触面对准方法、设备和计算机存储介质

说明书

本申请提供一种继电器触点组接触面对准方法、设备和计算机存储介质，包括以下步骤：获取触点组接触面图像；将接触面图像转化为灰度图像；获取触点组接触面图像中受电弧侵蚀区域图像；提取受电弧侵蚀区域轮廓；计算受电弧侵蚀区域的重心点坐标；计算受电弧侵蚀区域的方向角度；计算触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标；匹配触点组接触面数据位置点。本申请的有益效果是：提出了利用触点表面侵蚀区域的轮廓形状的重心点和方向角度来对准触点组中动触点和静触点的接触面的方法，减小了因触点组离开原位进行测量带来的表面数据位置点不一致的偏差，可以使触点组测量的动、静触点的表面数据的对应更准确。

技术领域

本公开涉及可靠性试验技术领域，具体涉及一种继电器触点组接触面对准方法、设备和计算机存储介质。

背景技术

继电器触点组的接触面信息包括动触点与静触点相对应接触的表面信息，其与继电器的可靠性研究联系紧密。继电器的触点之间间隙过小，现有的非接触式测量仪器不能直接对触点进行观察，需要先将触点剪取下来或者移动触点离开初始位置，此时通过仪器测量得到的动触点和静触点的接触面数据会存在错位对应的偏差，影响后续实验分析的准确性。

目前人们通过宏观对准触点的基底来解决这一偏差，但是对于十字交叉的触点接触方式，无法再通过对准基底来对准触点接触面，本发明针对这类接触方式特殊的继电器触点组分析研究，亟待提供一种可靠性研究方法。

发明内容

本申请的目的是针对以上问题，提供一种继电器触点组接触面对准方法、设备和计算机存储介质。

第一方面，本申请提供一种继电器触点组接触面数据位置点对准方法，用于将触点组中的动触点接触面的数据位置点与静触点接触面的数据位置点对准，所述对准方法包括以下步骤：

获取触点组接触面图像；

图像处理触点组接触面图像，将其转化为灰度图像；

绘制包含受电弧侵蚀区域的图像掩膜模板，将掩膜模板图像矩阵与灰度图像矩阵点乘，得到触点组接触面图像中受电弧侵蚀区域图像；

应用边缘检测算子得到受电弧侵蚀区域边缘，应用图像二值化检测受电弧侵蚀区域边缘与外部的分界点，连接分界点得到受电弧侵蚀区域轮廓；

以触点组接触面图像的中心点作为坐标原点，得到受电弧侵蚀区域轮廓点的坐标集，计算受电弧侵蚀区域的重心点坐标；

计算受电弧侵蚀区域的方向角度；

计算触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标；

匹配触点组接触面数据位置点。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述计算受电弧侵蚀区域的重心点坐标，具体包括：得到受电弧侵蚀区域轮廓点的坐标集f(x,y)，应用电弧侵蚀区域轮廓图像的零阶矩t₀₀和一阶矩t₁₀、t₀₁确定受电弧侵蚀区域的重心点坐标(x_c,y_c)，计算公式为：

根据本申请实施例提供的技术方案，所述计算受电弧侵蚀区域的方向角度，具体包括：应用电弧侵蚀区域轮廓图像的零阶矩t₀₀和二阶矩t₂₀、t₀₂和t₁₁确定受电弧侵蚀区域的方向角度θ，计算公式为：θ∈(-90,90)，其中，