[发明专利]继电器触点组接触面对准方法、设备和计算机存储介质

权利要求书

1.一种继电器触点组接触面数据位置点对准方法，用于将触点组中的动触点接触面的数据位置点与静触点接触面的数据位置点对准，其特征在于，所述对准方法包括以下步骤：

获取触点组接触面图像；

图像处理触点组接触面图像，将其转化为灰度图像；

绘制包含受电弧侵蚀区域的图像掩膜模板，将掩膜模板图像矩阵与灰度图像矩阵点乘，得到触点组接触面图像中受电弧侵蚀区域图像；

应用边缘检测算子得到受电弧侵蚀区域边缘，应用图像二值化检测受电弧侵蚀区域边缘与外部的分界点，连接分界点得到受电弧侵蚀区域轮廓；

以触点组接触面图像的中心点作为坐标原点，得到受电弧侵蚀区域轮廓点的坐标集，计算受电弧侵蚀区域的重心点坐标；所述计算受电弧侵蚀区域的重心点坐标，具体包括：得到受电弧侵蚀区域轮廓点的坐标集f(x,y)，应用电弧侵蚀区域轮廓图像的零阶矩t₀₀和一阶矩t₁₀、t₀₁确定受电弧侵蚀区域的重心点坐标(x_c,y_c)，计算公式为：

计算受电弧侵蚀区域的方向角度；所述计算受电弧侵蚀区域的方向角度，具体包括：

应用电弧侵蚀区域轮廓图像的零阶矩t₀₀和二阶矩t₂₀、t₀₂和t₁₁确定受电弧侵蚀区域的方向角度θ，计算公式为：

其中，

计算触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标；所述计算触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标，具体包括：应用动触点和静触点的受电弧侵蚀区域轮廓的重心点和方向角度求得触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标(△x,△y)，计算公式为：

其中：(x_cj,y_cj)为静触点受电弧侵蚀区域轮廓的重心点坐标，(x_cd,y_cd)为动触点受电弧侵蚀区域轮廓的重心点坐标，△θ＝θ_d-θ_j为动触点和静触点的受电弧侵蚀区域轮廓方向角度的角度差；

匹配触点组接触面数据位置点。

2.根据权利要求1所述的继电器触点组接触面数据位置点对准方法，其特征在于，所述计算触点组接触面数据位置点对准所需的偏移坐标，之后包括：将偏移坐标(△x,△y)的单位由像素转换为微米，得到实际坐标差(△x',△y')。

3.根据权利要求1或2所述的继电器触点组接触面数据位置点对准方法，其特征在于，所述匹配触点组接触面数据位置点，具体包括：

将动触点接触面数据位置点坐标分别偏移(△x',△y')，使得动触点接触面的数据位置点与静触点接触面数据位置点一一对应。

4.根据权利要求3所述的继电器触点组接触面数据位置点对准方法，其特征在于，所述将动触点接触面数据位置点坐标分别偏移(△x',△y')，之后包括：将动触点接触面数据位置点偏移(△x',△y')坐标后使得动触点接触面数据位置点与静触点接触面数据位置点重合，并将重合的数据位置点包围形成的图像作为触点组接触面图像。

5.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任意一项所述对准方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任意一项所述对准方法的步骤。