[发明专利]一种实现物品检测的方法和系统

说明书

本文公开一种实现物品检测的方法和系统，本发明实施例包括：对待检物品的太赫兹成像进行图像分析，将太赫兹成像中满足预设图像特征的区域确定为待检测区域；获取确定的待检测区域的光谱信息；根据获取的光谱信息确定待检测区域中包含的物体的物质成分；其中，预设图像特征包括：需进行物质成分检测的物体的形状特征。本发明实施例通过对太赫兹图像进行图像分析确定待检测区域，减少了需要获取光谱信息的区域；基于光谱信息实现了待检测区域中包含的物体的物质成分的分析，提升了利用太赫兹波进行物品检测的速度。

技术领域

本文涉及但不限于检测技术，尤指一种实现物品检测的方法和系统。

背景技术

太赫兹波一般是指频率在0.1太赫兹(THz)～10THz之间的电磁波，其对常规包装材料及非金属材料有良好的穿透性，对有机品敏感度高，可呈现出其“指纹”光谱，与目前广泛使用的X光相比，太赫兹波没有电离辐射的危险，对于待检物品和操作人员来说具有更高的安全性。

目前，利用太赫兹技术进行物品检测的研究主要有三类：一是利用太赫兹时域光谱技术进行物质识别，该方法每一次只能对被检测物品的一个点进行物质识别；二是利用可调谐的连续波太赫兹光源实现多谱成像，多谱成像速度慢，因此难以适用于实际场景；三是将太赫兹时域光谱系统与逐点机械扫描结合实现二维光谱成像，这种方法同样存在成像速度慢的问题。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本发明实施例提供一种实现物品检测的方法和系统，能够提升利用太赫兹技术进行物品检测的速度。

本发明实施例提供了一种实现物品检测的方法，包括：

对待检物品的太赫兹成像进行图像分析，将太赫兹成像中满足预设图像特征的区域确定为待检测区域；

获取确定的待检测区域的光谱信息；

根据获取的光谱信息确定待检测区域中包含的物体的物质成分；

其中，所述预设图像特征包括：需进行物质成分检测的物体的形状特征。

另一方面，本发明实施例还提供一种实现物品检测的装置，包括：

确定待检区域单元、获取光谱信息单元和成分确定单元；其中，

确定待检区域单元设置为：对待检物品的太赫兹成像进行图像分析，将太赫兹成像中满足预设图像特征的区域确定为待检测区域；

获取光谱信息单元设置为：获取确定的待检测区域的光谱信息；

成分确定单元设置为：根据获取的光谱信息确定待检测区域中包含的物体的物质成分；

其中，所述预设图像特征包括：需进行物质成分检测的物体的形状特征。

本发明实施例包括：对待检物品的太赫兹成像进行图像分析，将太赫兹成像中满足预设图像特征的区域确定为待检测区域；获取确定的待检测区域的光谱信息；根据获取的光谱信息确定待检测区域中包含的物体的物质成分；其中，预设图像特征包括：需进行物质成分检测的物体的形状特征。本发明实施例通过对太赫兹图像进行图像分析确定待检测区域，减少了需要获取光谱信息的区域；基于光谱信息实现了待检测区域中包含的物体的物质成分的分析，提升了利用太赫兹波进行物品检测的速度。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。