[发明专利]一种基于CT轴扫描的坏点校正方法

说明书

本发明涉及一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，包括以下步骤：S1、判断待校正坏点的共轭位置点是否为坏点；若否，则将待校正坏点的共轭位置点对应的投影值作为待校正坏点的校正值，转至步骤S3；若是，转至步骤S2；S2、选取待校正坏点的目标邻域内的像素点，并根据像素点的投影值得到待校正坏点的校正值，转至步骤S3；S3、利用待校正坏点的校正值对待校正坏点进行插值校正。本发明提升了坏点校正的精度。本发明的基于CT轴扫描的坏点校正方法，在坏点校正过程中采用共轭位置点的投影信息，有利于提升坏点校正的精度。

技术领域

本发明属于电子计算机断层扫描技术领域，具体涉及一种基于CT轴扫描的坏点校正方法。

背景技术

电子计算机断层扫描系统中，探测器是由多个探测单元组成的阵列。探测器在使用过程中，探测单元可能由于各种原因出现损坏，从而出现坏点，最终造成对应位置采集的信号出现异常，重建图像上出现环形伪影。

目前，坏点校正方法大多是在坏点周围选取一定数量的正常像素点的像素值，取其平均值作为校正值进行插值，得到坏点处的校正值，例如，公开号为CN105787905A的专利文献公开的一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法、公开号为CN111161183A的专利文献公开的一种口腔CT中平板探测器坏像素点校正方法。但存在以下缺陷：

(1)插值校正时未考虑坏点的类型以及参与插值的像素点对坏点的影响权重，导致校正的精度不高。因为，参与插值的像素点到坏点的距离不同，提供信息的可参考性不同；距离坏点较近的像素点，提供信息的可参考性较强，应赋予较高的权重，反之应赋予较低的权重。而且，不同类型的坏点在处理时需要进行区分，例如，一个孤立的坏点需要2～3个邻域值进行校正，而在位于多个坏点之间时则需要更多的插值来校正；

(2)若坏点在一定范围内连续分布，或者在一定范围内分布较多时，相邻像素点提供的信息是不可靠的，与坏点处的真实值偏差较大，使用其作为插值，得到的信息也是不准确的；

(3)只使用同一焦点位置处的投影信息。

发明内容

基于现有技术中存在的上述缺点和不足，本发明的目的之一是至少解决现有技术中存在的上述问题之一或多个，换言之，本发明的目的之一是提供满足前述需求之一或多个的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法。

为了达到上述发明目的，本发明采用以下技术方案：

一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，包括以下步骤：

S1、判断待校正坏点的共轭位置点是否为坏点；若否，则将待校正坏点的共轭位置点对应的投影值作为待校正坏点的校正值，转至步骤S3；若是，转至步骤S2；

S2、选取待校正坏点的目标邻域内的像素点，并根据像素点的投影值得到待校正坏点的校正值，转至步骤S3；

S3、利用待校正坏点的校正值对待校正坏点进行插值校正。

作为优选方案，所述步骤S1中，待校正坏点的共轭位置点的查找过程，包括：

若在扫描得到的扇形束数据中进行坏点校正，假设待校正坏点的位置为(β，γ，τ)，β为待校正坏点对应的球管投影角度、γ为待校正坏点对应的射线与中心射线的夹角、τ为待校正坏点对应的探测单元所在的排的编号；

则待校正坏点的共轭位置点的位置为(β+π-2γ，-γ，τ)。

作为优选方案，所述步骤S1中，待校正坏点的共轭位置点的查找过程，包括：

若在扇形束到平行束的重排过程中进行坏点校正，假设待校正坏点的位置为(β，s，τ)，β为待校正坏点对应的球管投影角度、s为待校正坏点对应的射线与中心射线的距离、τ为待校正坏点对应的探测单元所在的排的编号；

则待校正坏点的共轭位置点的位置为(β+π，-s，τ)。