[发明专利]一种基于CT轴扫描的坏点校正方法

权利要求书

1.一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、判断待校正坏点的共轭位置点是否为坏点；若否，则将待校正坏点的共轭位置点对应的投影值作为待校正坏点的校正值，转至步骤S3；若是，转至步骤S2；

S2、选取待校正坏点的目标邻域内的像素点，并根据像素点的投影值得到待校正坏点的校正值，转至步骤S3；

S3、利用待校正坏点的校正值对待校正坏点进行插值校正。

2.根据权利要求1所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，所述步骤S1中，待校正坏点的共轭位置点的查找过程，包括：

若在扫描得到的扇形束数据中进行坏点校正，假设待校正坏点的位置为(β，γ，τ)，β为待校正坏点对应的球管投影角度、γ为待校正坏点对应的射线与中心射线的夹角、τ为待校正坏点对应的探测单元所在的排的编号；

则待校正坏点的共轭位置点的位置为(β+π-2γ，-γ，τ)。

3.根据权利要求1所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，所述步骤S1中，待校正坏点的共轭位置点的查找过程，包括：

若在扇形束到平行束的重排过程中进行坏点校正，假设待校正坏点的位置为(β，s，τ)，β为待校正坏点对应的球管投影角度、s为待校正坏点对应的射线与中心射线的距离、τ为待校正坏点对应的探测单元所在的排的编号；

则待校正坏点的共轭位置点的位置为(β+π，-s，τ)。

4.根据权利要求1所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，所述步骤S2，具体包括：

S21、计算待校正坏点的目标邻域内各像素点至待校正坏点的距离，并根据距离大小对各像素点进行排序，得到目标序列；

S22、从目标序列中选取N个目标像素点，并将N个目标像素点的投影值进行加权和，得到待校正坏点的校正值；N为大于1的整数。

5.根据权利要求1所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，所述步骤S1之前，还包括：

S0、分别计算各待校正坏点的目标邻域内各像素点至相应的待校正坏点的距离，并根据距离大小对各像素点进行排序，得到各待校正坏点的目标序列；

相应地，所述步骤S2，具体包括：

从待校正坏点的目标序列中选取N个目标像素点，并将N个目标像素点的投影值进行加权和，得到待校正坏点的校正值；N为大于1的整数。

6.根据权利要求4或5所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，N个目标像素点的选取，包括以下步骤：

S221、根据目标序列的排序从小到大依次判断各像素点是否为坏点，先判断第一个像素点是否为坏点；若是，则转至步骤S222；若否，则保留作为目标像素点；

S222、判断其共轭位置点是否为坏点；若是，则丢弃相应的像素点；若否，则保留作为目标像素点；

S223、进行下一像素点的判断，循环步骤S221、S222，直至得到的目标像素点的数量为N个。

7.根据权利要求6所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，像素点至待校正坏点的距离为：

其中，d_k表示第k个像素点至待校正坏点的距离，x_k、y_k分别表示第k个像素点相对于待校正坏点在探测器通道方向和排方向的位移。

8.根据权利要求7所述的一种基于CT轴扫描的坏点校正方法，其特征在于，所述目标像素点的权重为：

其中，w_i为第i个目标像素点的权重，d_i为第i个目标像素点至待校正坏点的距离；

待校正坏点的校正值为：

其中，v_i为第i目标像素点的投影值。