[发明专利]显示面板的测试模组和测试方法

说明书

本申请适用于显示技术领域，提供了一种显示面板的测试模组和测试方法。显示面板的测试模组包括n条栅极线和第一导电部件，第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应，可以对任意一条或任意多条的栅极线进行测试，并在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，实现提高栅极线测试的灵活度并提高显示面板的生产良品率。

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测试模组和测试方法。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板在娱乐、教育、安防等各种领域得到广泛应用。GOA(Gate Driver on Array，阵列基板行驱动)技术是指将栅极驱动电路(Gate driverIC)直接制作在阵列(Array)基板上，实现对栅极逐行扫描的驱动方式。GOA技术能够简化显示面板的制备工序，省去水平扫描线方向的芯片贴合(Bonding)工序，可以减少覆晶薄膜的使用(Chip On Film，COF)，降低生产成本，同时可以提高显示面板的集成度，使显示面板更轻薄化。

通常为了验证显示面板的设计或者解决显示面板存在的问题，需要同时对全部栅极线进行测试，然而一片覆晶薄膜能够连接的栅极线数量有限，因此减少覆晶薄膜的使用会导致无法通过覆晶薄膜连接全部栅极线进行测试，影响测试性能。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示面板的测试模组和测试方法，以解决减少覆晶薄膜的使用会导致无法通过覆晶薄膜连接全部栅极线进行测试，影响测试性能的问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种显示面板的测试模组，包括n条栅极线和第一导电部件，所述第一导电部件包括n+1个导电单元，任意相邻的两个所述导电单元之间间隔设置，第1个导电单元与所述显示面板的外引脚贴合区连接，第i+1个导电单元和第i条栅极线相交并间隔设置，第1条栅极线至第n条栅极线和第2个导电单元至第n+1个导电单元一一对应；

其中，i＝1，2，…，n，n≥1且n为整数。

在一个实施例中，所述测试模组还包括n个第二导电部件，第i个第二导电部件设置于第i个导电单元与第i+1个导电单元之间的间隔处。

在一个实施例中，所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层，所述第一导电部件和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层；

或者，所述栅极线和所述第二导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的相同层，所述栅极线和所述第一导电部件设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层；

或者，所述栅极线、所述第二导电部件和所述第一导电部件依次设置于所述显示面板的阵列基板一侧的不同层。

在一个实施例中，所述测试模组包括栅极信号总线，每条所述栅极线通过所述栅极信号总线与所述显示面板的外引脚贴合区连接。

在一个实施例中，所述导电单元为金属导电单元或氧化铟锡导电单元。

本申请实施例的第一方面提供的显示面板的测试模组，可以对任意一条或任意多条的栅极线进行测试，并在测试过程中当多条栅极线和对应的导电单元发生短路时，可以避免多条栅极线通过对应的导电单元电性连接造成进一步扩大短路的影响，实现提高栅极线测试的灵活度并提高显示面板的生产良品率。

本申请实施例的第二方面提供了一种显示面板的测试方法，包括：

连接第k条栅极线与第k+1个导电单元；

依次连接第1个导电单元至第k+1个导电单元；