[发明专利]一种设备性能分析方法和装置

说明书

本申请实施例提供一种设备性能分析方法和装置，所述方法包括：获取第一时刻以及第一时刻对应的第一日志数据，所述第一日志数据为第一时刻对应的日志数据；根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，第二时刻为截屏数据集合中的一个截屏采样时刻；根据第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为第二时刻对应的截屏数据；根据第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析。通过第一映射关系可以将日志数据和截屏数据的时间轴统一，进而可以获得同一时刻的第一日志数据和第一截屏数据，当利用该第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析时，可以准确地判断出被测设备的性能问题。

技术领域

本申请涉及设备检查领域，具体涉及一种设备性能分析方法和装置。

背景技术

对于设备的性能分析，可以通过分析被测设备在测试过程中产生的日志数据以及与日志数据对应时刻的截屏数据，查找被测设备是否存在的性能缺陷，以便于对被测设备进行优化和改进。其中，日志数据包括被测设备后台的运行参数信息，截屏数据包括被测设备显示的画面图片。

日志数据一般可利用追踪(Trace)工具来获取，通过Trace工具可以抓取被测设备在测试时间段内的日志数据，截屏数据的采集则可以利用截屏工具获取，例如利用Minicap工具采集被测设备在测试时间段内的截屏数据。Trace工具抓取的日志数据是以时间戳为时间轴，Minicap工具采集的截屏数据是以被测设备内核时间为时间轴。但是时间戳与被测设备内核时间不一致，即日志数据时间轴与截屏数据时间轴之间存在时间差，导致在某一时刻获取的日志数据，与在该时刻获取的截屏数据，并不完全对应，从而在利用日志数据和截屏数据对被测设备检测时，会出现误差，不能准确分析出被测设备性能出现的问题。

发明内容

本申请提供了一种设备性能分析方法和装置。以解决现有的设备性能分析方法获取的截屏数据与日志数据之间存在时间差，进而无法准确的分析出被测设备性能出现的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种设备性能分析方法，包括：获取第一时刻以及所述第一时刻对应的第一日志数据，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻；根据所述第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。

其中，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据。

本方面提供的方法，通过在日志数据集合中选取第一时刻，根据第一时刻可以得到对应的第一日志数据。根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，通过第二时刻可以得到对应的第一截屏数据，即获得与第一日志数据同一时刻的第一截屏数据。通过第一映射关系可以将日志数据和截屏数据的时间轴统一，进而可以获得同一时刻的第一日志数据和第一截屏数据，当利用该第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行分析时，可以准确地判断出被测设备的性能问题，解决了由于日志数据和截屏数据的时间轴不统一，导致获取的日志数据与截屏数据之间存在时间差，进而无法准确检测出被测设备性能的问题。

结合第一方面，在一种可能的实现方式中，根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，包括：根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差；根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻。

本实现方式中，首先，通过第二映射关系可以将第一时刻转换到第一截屏时刻。然后再根据第一截屏时刻在截屏数据集合中查找最接近的截屏采样时刻作为第二时刻。从而可以准确的获得第一时刻对应的第二时刻，根据第二时刻进一步得到与第一日志数据对应的第一截屏数据，进而提高设备性能分析的准确性。