[发明专利]一种设备性能分析方法和装置

权利要求书

1.一种设备性能分析方法，其特征在于，包括：

获取第一时刻以及所述第一时刻对应的第一日志数据，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；

根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，所述第一映射关系为所述日志数据集合和截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据；

根据所述第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据；

其中，所述根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，包括：

根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，所述第二映射关系为所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差；

根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；

根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标识时刻为parent_ts时刻。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：

ΔT＝A₁+(A₂-A₃)；

其中，ΔT为时间差，A₁为所述第一参数，A₂为所述第二参数，A₃为所述第三参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二映射关系的表达式为：

T₂＝T₁+ΔT；

其中，T₂为所述第一截屏时刻，T₁为所述第一时刻，ΔT为时间差。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

获取追踪模块抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据生成；

或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据生成所述日志数据集合。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述追踪模块采用Systrace工具。

8.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

获取截屏模块抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；

或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据生成所述截屏数据集合。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述截屏模块采用Minicap工具。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：显示所述第一截屏数据。