[发明专利]用于激光切割的污点定位方法、装置以及激光切割系统

权利要求书

1.一种用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，包括：

在激光依次经过N个镜片时，获取N个镜片的实际光强信息，所述实际光强信息表征了对应镜片的激光入射侧的光学信号的强度；

针对于任意或指定的第K个镜片，根据第一个镜片至所述第K个镜片的K组实际光强信息，判断所述第K个镜片是否有污点，N≥K≥2。

2.根据权利要求1所述的用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，针对于任意或指定的第K个镜片，根据第一个镜片至所述第K个镜片的K组实际光强信息，判断所述第K个镜片是否有污点，包括：

针对于所述第K个镜片，根据第一个镜片至第K个镜片的K组实际光强信息与K组参考光强信息，确定所述第K个镜片的光强偏差信息；所述参考光强信息匹配于对应镜片无污点时的光强，所述光强偏差信息表征了所述实际光强信息相对于所述参考光强信息的偏差程度；

根据所述第K个镜片的光强偏差信息，判断所述第K个镜片是否有污点。

3.根据权利要求2所述的用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，根据所述第K个镜片的光强偏差信息，判断所述第K个镜片是否有污点，包括：

若所述第K个镜片的光强偏差信息大于预设的光强阈值，则确定所述第K个镜片有污点。

4.根据权利要求2所述的用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，所述第K个镜片的光强偏差信息正相关于所述第K个镜片的实际光强信息与参考光强信息的比值；

当K＞2时，所述第K个镜片的光强偏差信息负相关于所述第一个镜片至第K-1个镜片的光强偏差信息之和，所述第一个镜片至第K-1个镜片的光强偏差信息是根据所述第一个镜片至第K-1个镜片的实际光强信息与参考光强信息确定的；

当K＝2时，所述第K个镜片的光强偏差信息负相关于所述第一个镜片的光强偏差信息，所述第一个镜片的光强偏差信息是根据所述第一个镜片的实际光强信息与参考光强信息确定的。

5.根据权利要求4所述的用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，所述第K个镜片的光强偏差信息满足以下公式：

其中，

p_K表征了第K个镜片的光强偏差信息；

H_K表征了第K个镜片的实际光强信息；

h_K表征了第K个镜片的参考光强信息；

p_i表征了第i个镜片的光强偏差信息。

6.根据权利要求1所述的用于激光切割的污点定位方法，其特征在于，在激光依次经过N个镜片时，获取N个镜片的实际光强信息之后，还包括：

针对于所述第一个镜片，根据所述第一个镜片的实际光强信息以及参考光强信息，判断所述第一个镜片是否有污点。

7.一种用于激光切割的污点定位装置，其特征在于，包括：

信息获取模块，用于获取N个镜片的实际光强信息，所述实际光强信息表征了对应镜片的激光入射侧的光学信号的强度；沿激光传输方向，所述N个镜片依次分布；

污点检测模块，用于针对于任意的第K个镜片，根据第一个镜片至第K个镜片的K个实际光强信息，判断所述第K个镜片是否有污点。

8.一种激光切割系统，其特征在于，包括激光入射端、外壳、多个镜片、上位机、光电传感器，激光能够依次经过所述激光入射端与所述多个镜片，所述镜片固定在所述外壳的内壁，所述激光入射端设于所述壳体的第一端；

所述光电传感器直接或间接固定于所述内壁，

所述光电传感器被配置为能够检测对应镜片的激光入射侧的光学信号；

所述光电传感器直接或间接电连接所述上位机，以将检测所述光学信号而得到的实际光强信息反馈至所述上位机；

所述上位机用于实现权利要求1至6任一项所述的用于激光切割的污点定位方法。