[发明专利]芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品

说明书

本公开提供了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术领域，具体涉及系统级芯片技术领域，尤其涉及芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。该方法的一具体实施方式包括：获取芯片的设计模型；生成针对该芯片的管脚的随机化配置，其中，随机化配置用于指示该芯片的各管脚分别与该芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；按照随机化配置对设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；利用配置后的设计模型，对各通信功能模块进行功能测试。该实施方式可以实现对芯片的各通信功能模块在各种配置下的随机化功能测试。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，具体涉及系统级芯片技术领域，尤其涉及芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。

背景技术

随着芯片规模的不断增加，一些系统级芯片(SOC，System On Chip)达到了数百万或上千万门，与此同时，芯片的管脚PAD数目也在不断增加，芯片测试工作越来越重要。目前，在芯片的开发和设计阶段，芯片测试所占的时间越来越长，而且通常需要专业的测试人员才能对芯片进行有效测试(或验证)。

在芯片开发时，为了更高效地利用芯片的管脚，会出现管脚复用的一些情况。即同一组管脚可以通过数据选择器IO MUX被配置成与芯片中不同的通信功能模块的引脚PIN连接，以实现不同的功能。因此在芯片的设计阶段，就需要对存在管脚复用的芯片的管脚的各种不同配置进行功能测试，以保证各种配置下都能实现对应功能。

目前的测试方法主要包括利用定向测试用例或Toggle In/Toggle Out的方法来实现。具体地，对于芯片的一些典型配置，可以通过编写这种配置对应的功能测试用例来进行测试。对于芯片的各种非典型配置，可以先将IO MUX随机配置，然后利用Toggle In/Toggle Out的方式测试随机化的每种配置下的连通性。

实际应用中，定向测试用例这种验证方法缺乏随机性，只能覆盖有限个典型配置的应用场景。Toggle In/Toggle Out这种测试方法只能测试在每种配置下芯片的管脚与对应通信功能模块的引脚之间对应连接的连通性，而通常无法完成对应的功能性测试。

发明内容

本公开实施例提出了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。

第一方面，本公开实施例提出了一种芯片测试方法，包括：获取芯片的设计模型；生成针对该芯片的管脚的随机化配置，其中，随机化配置用于指示该芯片的各管脚分别与该芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；按照随机化配置对设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；利用配置后的设计模型，对各通信功能模块进行功能测试。

第二方面，本公开实施例提出了一种芯片测试装置，包括：获取单元，被配置成获取芯片的设计模型；生成单元，被配置成生成针对该芯片的管脚的随机化配置，其中，随机化配置用于指示该芯片的各管脚分别与该芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；配置单元，被配置成按照随机化配置对设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；测试单元，被配置成利用配置后的设计模型，对各通信功能模块进行功能测试利用配置后的设计模型，对各通信功能模块进行功能测试。

第三方面，本公开实施例提出了一种芯片，其中，芯片根据其对应的设计模型生产得到，设计模型利用如第一方面中任一实现方式描述的方法进行功能测试。

第四方面，本公开实施例提出了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行如第一方面中任一实现方式描述的方法。

第五方面，本公开实施例提出了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，计算机指令用于使计算机执行如第一方面中任一实现方式描述的方法。