[发明专利]芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品

权利要求书

1.一种芯片测试方法，包括：

获取芯片的设计模型；

生成针对所述芯片的管脚的随机化配置，其中，所述随机化配置用于指示所述芯片的各管脚分别与所述芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；

按照所述随机化配置对所述设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；

利用所述配置后的设计模型，对所述各通信功能模块进行功能测试；

其中，所述利用所述配置后的设计模型，对所述各通信功能模块进行功能测试，包括：

对于所述各通信功能模块中的通信功能模块，获取该通信功能模块的测试用设计模型，其中，所述测试用设计模型包括与该通信功能模块的各引脚分别一一对应的引脚；

将所述测试用设计模型的各引脚分别与对应的通信功能模块的引脚所对应连接的管脚对应连接，形成所述测试用设计模型和所述配置后的设计模型之间的连接关系；

利用所述测试用设计模型、所述配置后的设计模型和所述连接关系，对该通信功能模块进行功能测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述随机化配置使得每个管脚仅与一个通信功能模块的一个引脚对应连接。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述随机化配置使得每个管脚的功能属性与对应连接的引脚的功能属性匹配，其中，功能属性用于指示输入和/或输出。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述利用所述配置后的设计模型，对所述各通信功能模块进行功能测试，包括：

对于所述各通信功能模块中的通信功能模块，获取该通信功能模块对应的功能测试用例，以及控制所述设计模型执行获取的功能测试用例以对该通信功能模块进行功能测试。

5.一种芯片测试的装置，包括：

获取单元，被配置成获取芯片的设计模型；

生成单元，被配置成生成针对所述芯片的管脚的随机化配置，其中，所述随机化配置用于指示所述芯片的各管脚分别与所述芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；

配置单元，被配置成按照所述随机化配置对所述设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；

测试单元，被配置成利用所述配置后的设计模型，对所述各通信功能模块进行功能测试；

其中，所述测试测试单元进一步被配置成：对于所述各通信功能模块中的通信功能模块，获取该通信功能模块的测试用设计模型，其中，所述测试用设计模型包括与该通信功能模块的各引脚分别一一对应的引脚；

将所述测试用设计模型的各引脚分别与对应的通信功能模块的引脚所对应连接的管脚对应连接，形成所述测试用设计模型和所述配置后的设计模型之间的连接关系；

利用所述测试用设计模型、所述配置后的设计模型和所述连接关系，对该通信功能模块进行功能测试。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述随机化配置使得每个管脚仅与一个通信功能模块的一个引脚对应连接。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述随机化配置使得每个管脚的功能属性与对应连接的引脚的功能属性匹配，其中，功能属性用于指示输入和/或输出。

8.根据权利要求5所述的装置，其中，所述测试单元进一步被配置成：

对于所述各通信功能模块中的通信功能模块，获取该通信功能模块对应的功能测试用例，以及控制所述设计模型执行获取的功能测试用例以对该通信功能模块进行功能测试。

9.一种芯片，其中，所述芯片根据其对应的设计模型生产得到，所述设计模型利用权利要求1-4中任一项所述的方法进行功能测试。

10.一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-4中任一项所述的方法。

11.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-4中任一项所述的方法。