[发明专利]一种基于RAL的OTP寄存器验证方法

说明书

本发明公开了一种基于RAL的OTP寄存器验证方法，该方法包括：步骤1：搭建基于RAL的寄存器通用验证平台；步骤2：将随机数据写入OTP器件仿真模型的数据文件中；步骤3：获取当前OTP寄存器抽象级描述文件；步骤4：基于当前寄存器抽象级描述文件，更新基于RAL的寄存器通用验证平台；步骤5：在基于RAL的寄存器通用验证平台上运行预定义的寄存器的复位值验证测试用例，验证OTP控制逻辑正确性。本发明基于寄存器抽象层的验证方法学RAL对OTP寄存器进行双重验证，不仅验证寄存器复位值与读写属性是否符合设计说明书，实现对OTP寄存器的高效验证，还验证了OTP控制逻辑的正确性。

技术领域

本发明涉及寄存器验证领域，具体涉及一种基于RAL（寄存器抽象层的验证方法学）的OTP寄存器验证方法。

背景技术

在数模混合的芯片设计中，为了给模拟模块提供修正值，通常需要在数字模块中应用到一次性可编程器件（One Time Programmable,OTP）。一次性可编程器件OTP的特点是只能烧写一次，且芯片掉电后数据不丢失。使用一次性可编程器件OTP存储的模拟修正值，需要在芯片制造完成后，通过测试确定最优修正值，再烧写至一次性可编程器件OTP中，最优修正值在OTP寄存器复位完成后，从OTP器件中载入对应的寄存器中，以保证芯片的正常工作。目前对普通寄存器的验证主要通过验证普通寄存器的复位值和读写属性是否与设计说明书相一致，从而间接地验证普通寄存器复位值和读写逻辑的正确性，而对于OTP寄存器不仅要验证其复位值和读写属性是否与设计说明书相一致，还需要验证OTP寄存器获取的OTP值与OTP设计说明书是否一致，才能够验证OTP控制逻辑的正确性，但是目前现有技术中针对普通寄存器的验证方法并不能满足对OTP控制逻辑正确性的验证。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种基于RAL的OTP寄存器验证方法，基于寄存器抽象层的验证方法学（Register Abstract Layer,RAL）对OTP寄存器进行双重验证，不仅验证寄存器复位值与读写属性是否符合设计说明书，还验证了OTP控制逻辑的正确性，实现对OTP寄存器的高效验证。本发明的具体技术方案如下：

一种基于RAL的OTP寄存器验证方法，方法包括如下步骤：步骤1：搭建基于RAL的寄存器通用验证平台，然后进入步骤2；步骤2：将随机数据写入OTP器件仿真模型的数据文件中，然后进入步骤3；步骤3：获取当前寄存器抽象级描述文件，然后进入步骤4；步骤4：基于当前寄存器抽象级描述文件，更新基于RAL的寄存器通用验证平台，然后进入步骤5；步骤5：在基于RAL的寄存器通用验证平台上运行预定义的寄存器的复位值验证测试用例，验证OTP控制逻辑正确性。

与现有技术相比，本发明通过搭建基于RAL的寄存器验证平台，结合写入随机数据的OTP器件仿真模型的数据文件，运行预定义的寄存器复位值测试用例，实现对OTP寄存器的高效低成本验证，确保OTP控制逻辑的正确性。

进一步地，所述基于RAL的OTP寄存器验证方法在步骤1前还包括：获取OTP相关信息；其中，所述OTP相关信息包括OTP寄存器信息、OTP器件地址与OTP寄存器地址的映射关系信息；所述OTP寄存器信息包括OTP寄存器地址信息、OTP寄存器字段信息、OTP寄存器复位值信息。本技术方案通过设计说明书获取OTP寄存器信息，以及OTP寄存器地址与OTP器件地址的映射关系，以用于后续验证OTP控制逻辑正确性；不仅验证了OTP寄存器复位值和读写属性是否与设计说明书一致，还验证了OTP寄存器获取的OTP值是否与设计说明书一致，从而实现对OTP控制逻辑正确性的验证，确保了OTP控制逻辑的正确性，实现OTP寄存器的双重验证。