[发明专利]芯片中硬件模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种芯片中硬件模块的测试方法，其特征在于，包括：

对接收到的芯片测试请求进行解析，得到待测试的目标硬件模块和目标信号位；

将控制寄存器原默认选取的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位；其中，当不需芯片测试时，预先设置控制寄存器选取的各多路选择器中的默认信号位为接地信号位；

利用各所述目标信号位对所述目标硬件模块进行测试操作。

2.根据权利要求1所述的芯片中硬件模块的测试方法，其特征在于，将控制寄存器原默认选取的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位，包括：

将所述控制寄存器原默认选取的所述目标硬件模块对应的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位。

3.根据权利要求2所述的芯片中硬件模块的测试方法，其特征在于，在利用各所述目标信号位对所述目标硬件模块进行测试操作之后，还包括：

当达到硬件模块断电触发条件时，控制所述目标硬件模块的供电电路断开，以使预置于所述目标硬件模块的电源域内的各多路选择器进行断电操作。

4.根据权利要求2所述的芯片中硬件模块的测试方法，其特征在于，在利用各所述目标信号位对所述目标硬件模块进行测试操作之后，还包括：

当达到子系统断电触发条件时，控制所述目标硬件模块所属的目标子系统的供电电路断开，以使预置于所述目标子系统的电源域内的各多路选择器进行断电操作。

5.根据权利要求1至4任一项所述的芯片中硬件模块的测试方法，其特征在于，在得到待测试的目标硬件模块和目标信号位之后，将控制寄存器原默认选取的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位之前，还包括：

统计各所述目标信号位的目标个数；

分别获取所述目标硬件模块与各所述多路选择器之间的信号连接个数；

判断是否存在小于所述目标个数的信号连接个数；

若是，则将与所述目标硬件模块的信号连接个数小于所述目标个数的多路选择器确定为目标多路选择器；

对所述目标多路选择器与所述目标硬件模块之间的连接总线进行扩展操作。

6.一种芯片中硬件模块的测试装置，其特征在于，包括：

请求解析单元，用于对接收到的芯片测试请求进行解析，得到待测试的目标硬件模块和目标信号位；

信号位选取单元，用于将控制寄存器原默认选取的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位；其中，当不需芯片测试时，预先设置控制寄存器选取的各多路选择器中的默认信号位为接地信号位；

模块测试单元，用于利用各所述目标信号位对所述目标硬件模块进行测试操作。

7.根据权利要求6所述的芯片中硬件模块的测试装置，其特征在于，所述信号位选取单元具体为将所述控制寄存器原默认选取的所述目标硬件模块对应的各多路选择器中的接地信号位，切换为所述芯片测试请求所选中各所述目标信号位的单元。

8.根据权利要求7所述的芯片中硬件模块的测试装置，其特征在于，还包括：

第一供电控制单元，用于在利用各所述目标信号位对所述目标硬件模块进行测试操作之后，当达到硬件模块断电触发条件时，控制所述目标硬件模块的供电电路断开，以使预置于所述目标硬件模块的电源域内的各多路选择器进行断电操作。

9.一种芯片中硬件模块的测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述芯片中硬件模块的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述芯片中硬件模块的测试方法的步骤。