[发明专利]一种磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统在审
| 申请号: | 202110549041.6 | 申请日: | 2021-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN113884953A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
| 发明(设计)人: | 张学莹;赵巍胜;杨怀文;孙蒲正 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学;致真精密仪器(青岛)有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
| 代理公司: | 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 | 代理人: | 王希刚 |
| 地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 磁性 自旋 电子器件 成像 演示 系统 | ||
1.一种磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统,其特征在于:包括磁性晶圆磁光克尔成像模块,自旋电子器件磁光克尔成像模块和计算机;
所述磁性晶圆磁光克尔成像模块包括光源I,起偏器I,透镜元件,磁性晶圆,检偏器I,透镜组II和相机I;所述光源I提供入射光,入射光依次通过起偏器I,透镜元件,照射到磁性晶圆上,磁性晶圆反射后的光依次通过检偏器I,透镜组II和相机I,所述相机I与所述计算机连接;
所述自旋电子器件磁光克尔成像模块包括光源II,透镜组III,起偏器II,分束镜,物镜,自旋电子器件,检偏器II和相机II;所述光源II提供入射光,入射光依次通过透镜组III,起偏器II,分束镜,物镜,照射到自旋电子器件上,自旋电子器件反射后的光依次通过物镜,分束镜,检偏器II和相机II,所述相机II与计算机连接。
2.根据权利要求1所述的磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统,其特征在于:所述系统还包括电源模块和电压测量模块,所述电源模块用于向自旋电子器件提供稳定电流或者电压,所述电压测量模块用于测量自旋电子器件指定引脚之间的电压差;所述电源模块和电压测量模块分别与所述自旋电子器件连接,所述电压测量模块与计算机连接。
3.根据权利要求1所述的磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统,其特征在于:所述起偏器I和所述检偏器I为可旋转设置或为固定设置;所述起偏器II和所述检偏器II为可旋转设置或为固定设置。
4.根据权利要求1所述的磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统,其特征在于:所述透镜组II的长度为0.1m~1m;所述透镜组II的焦距为0.06m~3m;所述透镜组II为远心透镜组。
5.根据权利要求1~4任意一项所述的磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统,其特征在于:所述透镜元件和所述起偏器I的位置互换。
6.一种根据权利要求1或2所述磁性晶圆和自旋电子器件成像和演示系统的成像和演示方法,其特征在于:包括以下内容,打开光源I,计算机上显示磁性晶圆的图像,将磁铁的一端靠近磁性晶圆远离检偏器I的一侧,磁铁在与磁性晶圆对应的范围内运动时,计算机上会显示磁铁运动的路径,或者整个晶圆范围内出现图像颜色或者灰度变化,表示磁性翻转;用磁铁的另一端靠近磁性晶圆,计算机显示磁性晶圆的成像恢复原状态;
打开光源II,计算机上显示自旋电子器件的成像,将磁铁靠近自旋电子器件远离物镜的一侧,计算机上中央的核心区域颜色发生变化,同时计算机显示自旋电子器件的电压值;当用磁铁的另一端靠近自旋电子器件时,计算机显示自旋电子器件恢复原状态。
7.根据权利要求6所述的成像和演示方法,其特征在于:所述计算机的成像和演示的图像处理方法使用作差法。
8.根据权利要求6所述的成像和演示方法,其特征在于:所述磁铁的另一端连接有控制部,用于操作者控制磁铁运动。
9.根据权利要求1~8中任意一项所述的成像和演示系统的应用。
10.根据权利要求9所述的应用,其特征在于,所述应用为用于教学演示、写字或画画。
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