[发明专利]一种用于芯片解理的裂片装置及芯片解理设备在审
| 申请号: | 202110546780.X | 申请日: | 2021-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN113192871A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
| 发明(设计)人: | 纪伟;刘严庆;任邵彬;夏志伟 | 申请(专利权)人: | 精良(北京)电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/78 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 秦广成 |
| 地址: | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 芯片 解理 裂片 装置 设备 | ||
1.一种用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,包括:
裂片刀(1),具有用于向下适于与芯片(2)抵接的尖端;
裂片受台,具有相对设置的两个支撑块(5);两块所述支撑块(5)的上表面形成适于放置待解理芯片(2)的承载面;两个支撑块(5)之间形成与所述裂片刀(1)的尖端相对设置的切割缝(8);两块所述支撑块(5)分别设置在支撑台(16)上;
所述待解理芯片(2)的切割线(9)靠近所述承载面、且与所述切割缝(8)对应放置;
对准镜头(7),设置在两个支撑台(16)之间;所述对准镜头(7)的发光端朝向所述切割缝(8)设置。
2.根据权利要求1所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,形成切割缝(8)的支撑块(5)的两个侧面为倾斜面(18);两个所述倾斜面(18)由上向下相互远离倾斜设置。
3.根据权利要求1所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,所述切割缝(8)的靠近切割刀的一端具有朝向所述切割缝(8)倾斜设置的倾斜面(18);所述倾斜面(18)与所述承载面的夹角α为30°-60°。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,所述切割缝(8)的开口大小是待解理芯片(2)的相邻两条所述切割线(9)之间的距离的1.5-2倍。
5.根据权利要求1所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,所述裂片受台还包括:
划切膜(3),用于固定所述待解理芯片(2)。
6.根据权利要求5所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,所述裂片受台还包括:
保护膜(4),由透明材料构成;所述保护膜(4)设置在所述承载面的上端;所述待解理芯片(2)适于放置在保护膜(4)上。
7.根据权利要求1所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,所述支撑块(5)与所述支撑台(16)之间通过调节螺杆(10)连接。
8.根据权利要求1所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,还包括:
滑动平台(11),设置在支撑块(5)和支撑台(16)之间;所述支撑块(5)与所述滑动平台(11)通过调节螺杆(10)连接;所述滑动平台(11)受驱动的滑动设置在支撑台(16)。
9.根据权利要求8所述的用于芯片解理的裂片装置,其特征在于,还包括:
驱动电机(15),具有两个;分别设置在支撑台(16)上;所述驱动电机(15)的驱动端与所述支撑块(5)连接。
10.一种芯片解理设备,其特征在于,包括权利要求1-9中任一项所述的用于芯片(2)解理的裂片装置。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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