[发明专利]一种偏光片用抗静电光学离型膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110543121.0 申请日: 2021-05-19
公开(公告)号: CN113308007A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 裴建军 申请(专利权)人: 浙江日久新材料科技有限公司
主分类号: C08J7/04 分类号: C08J7/04;C08J7/044;C09D183/07;C09D5/20;C09D5/24;C09D7/62;C09D7/65;C08L67/02
代理公司: 杭州中利知识产权代理事务所(普通合伙) 33301 代理人: 刘昕
地址: 314300 浙江省嘉兴市海盐*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 偏光 抗静电 光学 离型膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种偏光片用抗静电光学离型膜,自上而下包括离型层、基材层和抗静电层,其特征在于,所述离型层包括以下重量份的组分:乙烯基聚二甲基硅氧烷20-40份,含氢聚硅氧烷3-8份,锚固剂0.5-1.5份,化学改性无机粒子0.05-0.2份,氟改性有机硅树脂3-8份,铂催化剂2-4份,有机溶剂130份;所述改性无机粒子的径粒范围为50-400nm;所述化学改性无机粒子为硅烷偶联剂KH-570改性的二氧化硅、氧化铝、二氧化钛中的一种或者多种。

2.如权利要求1所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述离型层包括以下重量份的组分:乙烯基聚二甲基硅氧烷30份,含氢聚硅氧烷5份,锚固剂1份,化学改性无机粒子0.1份,氟改性有机硅树脂5份,铂催化剂3份,有机溶剂130份;所述化学改性无机粒子的径粒为200nm;所述化学改性无机粒子为硅烷偶联剂KH-570改性的二氧化硅。

3.如权利要求1或2所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于,所述氟改性有机硅树脂制备方法如下:室温下将20份,1,3,5-三(3,3,3-三氟丙基)-1,3,5-三甲基环三硅氧烷和3份碳酸钙,投入搅拌釜中,升温至90-130℃,搅拌均匀,抽真空除去体系水分,冷却至室温得到基础胶料;然后将所述基础胶料、8份甲基三甲氧基硅烷和6份N-(β-氨乙基)-3-氨丙基三甲氧基硅烷投入在高速分散搅拌机中,搅拌时间10-30min,搅拌速率为2000-3500r/min;接着通氮气,搅拌下加入0.01份二硫醇甲基锡,搅拌时间30-50min,搅拌速率为1500-2500r/min,抽真空脱气泡,最后得到所述氟改性有机硅树脂。

4.如权利要求1或2所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述含氢聚硅氧烷为甲基含氢聚硅氧烷、乙基含氢聚硅氧烷、苯基含氢聚硅氧烷中的一种或者多种。

5.如权利要求1或2所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述锚固剂为硅烷偶联剂KH-560。

6.如权利要求1或2所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述铂催化剂为质量分数为5%的Karstedt催化剂。

7.如权利要求1或2所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述有机溶剂包括甲苯和乙酸乙酯,甲苯和乙酸乙酯的质量比为10:3。

8.如权利要求1或2或3所述的偏光片用抗静电光学离型膜,其特征在于:所述乙烯基聚二甲基硅氧烷的重均分子量为30-100万,所述含氢聚硅氧烷的重均分子量为1.5-2.5万。

9.一种偏光片用抗静电光学离型膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将硅烷偶联剂KH-570、粒径为50-400nm的无机粒子、乙酸乙酯按照重量份比例为1:10:100依次加入到反应釜中,在40-60℃的反应温度下,超声分散反应4-6h,经过干燥后得到化学改性无机粒子;

(2)在厚度为25-250um的基材层的背面涂布一层厚度为0.2-2um抗静电层,涂布后在90-120℃的温度下烘烤10-30s;所述抗静电层的涂料为水溶性聚噻吩体系,水溶液的固含为5%;

(3)按照权利要求1所述的配方称取原料加入搅拌釜中,进行搅拌分散20-40min,得到离型层涂料;

(4)将离型层涂料采用微凹涂布方式涂布在基材层非抗静电层的正面上,涂布厚度为5um,涂布后在90-120℃的温度下烘烤10-30s;

(5)收卷制备得到的偏光片用光学抗静电离型膜产品。

10.如权利要求9所述的偏光片用抗静电光学离型膜的制备方法,其特征在于:所述步骤(1)中无机粒子为径粒200nm的二氧化硅,反应温度为50℃,超声分散反应时间为5h;所述步骤(2)中,基材层为38um厚度的PET,抗静电层的厚度为0.5um,烘烤温度为110℃,烘烤时间为20s;所述步骤(3)中搅拌分散的时间为30min;所述步骤(4)中烘烤温度为110℃,烘烤时间为20s。

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