[发明专利]一种无参考点的多目标偏移检测方法

说明书

一种无参考点的多目标偏移检测方法，以如下步骤进行检测：S1‑以合格产品为样品，拍摄样品获得模板图像，从模板图像中分别获取合样品中各个检测目标的位置参数作为各个检测目标符合检测要求的标准位置参数；S2‑拍摄待检产品获得产品图像，从产品图像中分别获取待检产品中各个检测目标的位置参数作为实际位置参数，对实际位置参数与标准位置参数进行对比，将对比结果超过阈值的待检产品判定为不符合检测要求的缺陷品，将对比结果未超过阈值的待检产品判定为符合检测要求的合格品。本发明的能在产品和治具上无法找到视觉可以精确识别的参考点时实施不依赖于参考点的偏移检测，满足检测需求。

技术领域

本发明涉及计算机视觉技术领域，具体的是一种无参考点的多目标偏移检测方法。

背景技术

在计算机视觉的应用中，产品的缺陷检测占据非常重要的位置，可以有效的提高产品质量、降低成本，从而提高用户满意度。

具体而言，对于工业生产中产品零部件的缺失和偏移检测，如耳机充电仓，需要通过计算机视觉对充电接口上的多个白色标签纸缺失（漏贴）和偏移（贴歪）进行缺陷检测，需要检测每一个标签是否存在缺失和偏移。目前常规的视觉检测方法都需要两个位置精确且可通过视觉稳定检测到的参考点，以此为参考基准识别所有其他的检测点。

特殊的，当产品和治具上无法找到视觉可以精确识别的参考点时，需要一种不依赖于参考点的偏移检测方法，满足检测需求。

发明内容

为了弥补现有技术的上述不足，本发明提供了一种无参考点的多目标偏移检测方法，针对产品和治具上无法找到视觉可以精确识别的参考点的情形，对多个检测目标提供不依赖于参考点的偏移检测。

为了实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案。

一种无参考点的多目标偏移检测方法，以如下步骤进行检测：

S1-以合格产品为样品，拍摄样品获得模板图像，从模板图像中分别获取合样品中各个检测目标的位置参数作为各个检测目标符合检测要求的标准位置参数；

S2-拍摄待检产品获得产品图像，从产品图像中分别获取待检产品中各个检测目标的位置参数作为实际位置参数，对实际位置参数与标准位置参数进行对比，将对比结果超过阈值的待检产品判定为不符合检测要求的缺陷品，将对比结果未超过阈值的待检产品判定为符合检测要求的合格品。

本方法应用于多个目标且无准确参考点时的偏移检测场景，主要的特点是不需要选择参考点，仍然可以对产品上的零部件进行偏移检测。其局限在于检测目标需要有多个，如仅有3个以内的检测目标则无法使用本方法，另外是要求检测目标中，合格目标要多于不合格目标，否则无法达到预期的效果。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

对于具有3个以上检测目标的产品，当检测目标的合格率高于50%时，能在产品和治具上无法找到视觉可以精确识别的参考点时实施不依赖于参考点的偏移检测，满足检测需求。

下面，结合说明书附图和具体实施方式对本发明做进一步的说明。

附图说明

图1是本发明的一个检测示例的示意图。

具体实施方式

一种无参考点的多目标偏移检测方法，以如下步骤进行检测：

S1-以合格产品为样品，拍摄样品获得模板图像，从模板图像中分别获取合样品中各个检测目标的位置参数作为各个检测目标符合检测要求的标准位置参数；

S2-拍摄待检产品获得产品图像，从产品图像中分别获取待检产品中各个检测目标的位置参数作为实际位置参数，对实际位置参数与标准位置参数进行对比，将对比结果超过阈值的待检产品判定为不符合检测要求的缺陷品，将对比结果未超过阈值的待检产品判定为符合检测要求的合格品。