[发明专利]一种无参考点的多目标偏移检测方法有效
申请号: | 202110542447.1 | 申请日: | 2021-05-18 |
公开(公告)号: | CN113295617B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 罗忠辉 | 申请(专利权)人: | 广州慧炬智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/88 |
代理公司: | 广州誉华专利代理事务所(普通合伙) 44712 | 代理人: | 罗丹 |
地址: | 510000 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 参考 多目标 偏移 检测 方法 | ||
1.一种无参考点的多目标偏移检测方法,其特征在于,以如下步骤进行检测:
S1-以合格产品为样品,拍摄样品获得模板图像,从模板图像中分别获取样品中各个检测目标的位置参数作为各个检测目标符合检测要求的标准位置参数,检测目标的位置参数包括坐标和角度;
S2-拍摄待检产品获得产品图像,从产品图像中分别获取待检产品中各个检测目标的位置参数作为实际位置参数,对实际位置参数与标准位置参数进行对比,将对比结果超过阈值的待检产品判定为不符合检测要求的缺陷品,将对比结果未超过阈值的待检产品判定为符合检测要求的合格品;
步骤S2中包括如下子步骤:
S21-确立模板图像中各个检测目标到待检产品图像中各个检测目标的最佳映射关系:
检测目标共N个,N>3,确立模板图像中各个检测目标到待检产品图像中各个检测目标的最佳映射关系的方式如下:
S211-在待检产品图像中取第1个检测目标T1上的关键点,与在模板图像中对应的检测目标上的关键点对应,形成一组映射关系;
S212-得出模板图像中对应的检测目标上的关键点到产品图像中第1个检测目标T1上的关键点的映射Hi;
S213-采用映射Hi对模板图像中其他的检测目标j,其中1<j≤N,进行坐标推算,得到一个与待检产品图像中的检测目标j的坐标Pj存在差异的预期坐标Pj’:
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S214-使用权值评估在映射Hi下产品图像中的其他检测目标的位置准确的程度Scorei:
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Centerj’为Pj’的中心点坐标,anglej’为Pj’整体的旋转角度,Pj’为使用映射Hi预测的目标j的坐标,Centerj为Pj的中心点坐标,anglej为,Pj的整体旋转角度,Pj为待检产品图像中的目标j的实际坐标,D为偏移归一化参数,A为旋转角度归一化参数,Ws为中心偏移权值,Wr为旋转角度权值;
S215-在产品图像中分别取第2-N个检测目标,依次重复以上步骤S211- 步骤S214,从而计算得到Score1至ScoreN共N个得分,取Score1至ScoreN中的最大值作为最佳值Scorebest,并将对应的Hi作为最佳映射Hbest;
S22-根据标准位置参数,由最佳映射关系推导得出待检产品中各个检测目标的预期位置参数;
S23-对比待检产品中各个检测目标的预期位置参数和实际位置参数,将对比结果超过阈值的待检产品判定为不符合检测要求的缺陷品,将对比结果未超过阈值的待检产品判定为符合检测要求的合格品。
2.根据权利要求1所述的一种无参考点的多目标偏移检测方法,其特征在于,产品图像为多个不同视野合成时,在步骤S2中包括如下前置于S21之前的子步骤:
S20-将多个不同视野中的所有检测目标的坐标转换为一个统一的坐标系下。
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