[发明专利]设计半导体芯片的方法和用于执行该方法的计算装置

权利要求书

1.一种设计半导体芯片的方法，所述方法包括：

获取指示半导体芯片上的多个单元的布置的第一数据；

获取指示所述多个单元与电力和信号线之间的布线的第二数据，电力和信号线包括至少一条电力线和至少一条信号线；以及

通过基于第一数据和第二数据检测所述多个单元的布置中的至少一个错误来输出验证结果。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于验证结果来修改第一数据和第二数据中的至少一者。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于第一数据、第二数据和验证结果来输出用于制造半导体芯片的设计数据；以及

基于设计数据来制造半导体芯片。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，输出验证结果的步骤包括：

通过将第一数据和第二数据之中的对应的单元的布线信息进行合并来获取合并数据；

基于合并数据来检测短路错误、浮动错误和不同类型库错误之中的所述至少一个错误；以及

生成指示所述至少一个错误的验证结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，第二数据包括具有与所述多个单元中的各个单元对应的多个行和与电力和信号线中的各条电力和信号线对应的多个列的矩阵，并且所述矩阵包括指示单元是否连接到电力和信号线中的对应的电力和信号线的数据，或者指示单元供应给电力和信号线中的对应的电力和信号线的电源或控制信号的类型的数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，检测所述至少一个错误的步骤包括：

在合并数据中扫描与电力和信号线中的各条电力和信号线对应的所述多个列；以及

响应于检测到两种不同类型的电源连接到与所述多个列中的一个列对应的环，检测到短路错误。

7.根据权利要求5所述的方法，其中，检测所述至少一个错误的步骤包括：

在合并数据中扫描与电力和信号线中的各条电力和信号线对应的所述多个列；以及

响应于检测到没有电源连接到与所述多个列中的一个列对应的环，检测到浮动错误。

8.根据权利要求5所述的方法，其中，第二数据还包括与所述多个单元中的各个单元对应的多条库信息，并且检测所述至少一个错误的步骤包括：

在合并数据中扫描与电力和信号线中的各条电力和信号线对应的所述多个列；

基于所述多条库信息来确定与不同库对应的单元是否被包括在与所述多个列中的一个列对应的同一环中；以及

响应于确定与不同库对应的单元被包括在同一环中，检测到不同类型库错误。

9.根据权利要求5所述的方法，其中，获取合并数据的步骤包括通过将第一数据、第二数据和第三数据进行合并来获取合并数据，第三数据包括与所述多个单元中的各个单元对应的多条库信息，并且检测所述至少一个错误的步骤包括：

在合并数据中扫描与电力和信号线中的各条电力和信号线对应的所述多个列；

基于所述多条库信息来确定与不同库对应的单元是否被包括在与所述多个列中的一个列对应的同一环中；以及

响应于确定与不同库对应的单元被包括在同一环中，检测到不同类型库错误。

10.根据权利要求1至权利要求9中的任意一项所述的方法，还包括：

基于包括在验证结果中的错误的类型和细节，输出指示用于对第一数据和第二数据中的一个或多个执行的纠正的纠正信息。