[发明专利]一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法

说明书

本发明属于半导体测试领域，尤其是一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法，针对现有的老化测试设备在对半导体存储产品进行测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性的问题，现提出如下方案，其包括箱体，所述箱体的底部固定安装有四个固定脚，箱体的一侧铰接有箱门，箱门上固定安装有把手，箱体的顶部内壁固定安装有加热片，箱体的顶部固定安装有电源，箱体的两侧内壁均固定安装有固定条，本发明能够在对半导体存储产品进行测试的过程中，便于对测试基板进行固定定位，从而可以防止测试基板松动而降低了测试的准确性，结构简单，使用方便。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法。

背景技术

为了达到半导体芯片的合格率，几乎所有半导体芯片在出厂前都要进行老化测试。老化测试是通过半导体测试板对待测半导体芯片提供必要的系统信号，模拟半导体芯片的工作状态，在高温的情况或其它情况下加速半导体芯片的电气故障，在一段时间内获取半导体芯片的故障率，让半导体芯片在给定的负荷状态下工作而使其缺陷在较短的时间内出现，从而得到半导体芯片在生命周期大致的故障率，避免在使用早期发生故障。

现有技术中，半导体存储产品在老化测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性，为此我们提出了一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法用于解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中半导体存储产品在老化测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性的缺点，而提出的一种半导体存储产品的老化测试设备。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种半导体存储产品的老化测试设备，包括箱体，所述箱体的底部固定安装有四个固定脚，箱体的一侧铰接有箱门，箱门上固定安装有把手，箱体的顶部内壁固定安装有加热片，箱体的顶部固定安装有电源，箱体的两侧内壁均固定安装有固定条，两个固定条的一侧均开设有第一滑槽，两个第一滑槽内滑动安装有半导体测试基板，半导体测试基板的一侧固定安装有插头，壳体的一侧内壁固定安装有插座，插头与插座相卡装，箱体的一侧开设有安装孔，安装孔内固定安装有散热风扇，安装孔的顶部内壁与底部内壁均开设有第二滑槽，两个第二滑槽内均滑动安装有密封板，密封板的底部与第二滑槽的底部内壁均开设有安装槽，两个安装槽内设置有串联机构，箱体内开设有对称的两个空槽，两个空槽内均滑动安装有齿条。

优选的，所述串联机构包括第一导电块、第二导电块和两个第一弹簧，第一导电块和第二导电块的外侧分别与两个安装槽的内壁滑动连接，两个第一弹簧的一端分别与第一导电块和第二导电块的外侧固定连接，两个第一弹簧的另一端分别与两个安装槽的内壁固定连接，第一导电块、电源、散热风扇和第二导电块通过导线串联。

优选的，两个第二滑槽的内壁均开设有第一通孔，两个第一通孔分别与两个空槽相通，两个密封板上均开设有螺纹槽，两个螺纹槽内均螺纹安装有螺纹杆，两个螺纹杆分别位于两个空槽内的一端均固定安装有齿轮，两个齿轮分别与两个齿条啮合。

优选的，两个空槽的一侧内壁均开设有第二通孔，两个第二通孔内均滑动安装有连接杆，两个连接杆的一端分别与两个齿条的一端固定连接，两个连接杆上均套设有第二弹簧，第二弹簧的两端分别与空槽的一侧内壁和齿条的一端固定连接。

优选的，两个固定条的顶部均开设有滑孔，两个滑孔内均滑动安装有插销，半导体测试基板的顶部开设有对称的两个卡槽，两个插销分别与两个卡槽相配合，两个插销上均套设有第三弹簧，第三弹簧的两端分别与插销的外侧的固定条的顶部固定连接。

优选的，两个第一滑槽内均滑动安装有滑块，箱体的一侧内壁开设有对称的两个第三滑槽，两个滑块的外侧分别与两个第三滑槽的内壁滑动连接，两个滑块的外侧均固定连接有第四弹簧，两个第四弹簧的一端分别与两个第三滑槽的内壁固定连接。