[发明专利]一种透明材料上下表面缺陷的检测方法及设备

说明书

本发明公开了一种透明材料上下表面缺陷的检测方法及设备，涉及AOI的外观检测领域，该方法包括以下步骤：使用设置在透明材料上方的检测装置直接检测所述透明材料的上表面缺陷。使用所述检测装置对设置在所述透明材料下方的反射镜中的透明材料下表面的成像进行对焦，以检测所述透明材料的下表面缺陷。本发明不用翻转产品即可进行上下表面缺陷检测，且不受镜头景深和透明材料厚度限制而影响检出。

技术领域

本发明涉及AOI的外观检测领域，具体涉及一种透明材料上下表面缺陷的检测方法及设备。

背景技术

随着人们对大屏显示效果的不断追求，显示要求的品质要求越来越高，透明材料被用到更多的显示产品中，如显示器的玻璃盖板，AR波导片等，其厚度变化范围50um～2mm不等，对其缺陷的检测要求越来越高，不仅要检测上表面缺陷，还要检测下表面缺陷，缺陷种类有点、线、划痕、脏污等。

对于有点、线、划痕、脏污等的检测，可以参照现有外观检测AOI(AutomatedOptical Inspection，自动光学检测)技术进行缺陷检测。但是缺陷也分上下层缺陷，由于机构空间限制，透明材料尺寸大而薄易碎等原因，有时候不适合翻转材料，只能通过上表面检测下表面缺陷，然而有时因为材料太薄，镜头景深大的原因，导致上下表面缺陷不易区分检出。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明第一方面提供一种不用翻转产品即可进行上下表面缺陷检测，且不受镜头景深和透明材料厚度限制而影响检出的透明材料上下表面缺陷的检测方法。

为达到以上目的，本发明采取的技术方案是：

一种透明材料上下表面缺陷的检测方法，该方法包括以下步骤：

使用设置在透明材料上方的检测装置直接检测所述透明材料的上表面缺陷；

使用所述检测装置对设置在所述透明材料下方的反射镜中的透明材料下表面的成像进行对焦，以检测所述透明材料的下表面缺陷。

一些实施例中，所述检测方法还包括：

调节所述反射镜到所述透明材料的距离，以控制所述透明材料下表面在反射镜中的成像到所述检测装置的距离。

一些实施例中，所述使用设置在透明材料上方的检测装置直接检测所述透明材料的上表面缺陷，包括：

将检测装置对焦到所述透明材料的上表面；

开启设置在所述上表面的上方的第一光源，利用检测装置拍摄取图，以检测所述透明材料的上表面的凹坑和/或划痕；

开启设置在所述透明材料水平方向两侧的第二光源，利用检测装置拍摄取图，以检测所述透明材料的上表面的脏污情况。

一些实施例中，所述第一光源包括成镜像对称设置的至少两个发光源，所述至少两个发光源与所述透明材料之间成一夹角倾斜设置。

一些实施例中，所述使用所述检测装置对设置在所述透明材料下方的反射镜中的透明材料下表面的成像进行对焦，以检测所述透明材料的下表面缺陷，包括：

将检测装置对焦到所述透明材料的下表面在反射镜中的成像；

开启设置在所述下表面的下方的第三光源，利用检测装置拍摄取图，以检测所述透明材料下表面的凹坑和/或划痕；

开启设置在所述透明材料水平方向两侧的第二光源，利用检测装置拍摄取图，以检测所述透明材料下表面的脏污情况。

一些实施例中，所述检测方法还包括：

移动所述检测装置和反射镜，以对所述透明材料的下一区域进行检测。