[发明专利]一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法在审

专利信息
申请号: 202110484599.0 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113298698A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 马萧萧;许剑;周熙;雷锴;夏境良 申请(专利权)人: 成都东方盛行电子有限责任公司
主分类号: G06T3/00 分类号: G06T3/00;G06K9/00
代理公司: 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 代理人: 袁英
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 工程 中人 关键 眼袋 方法
【权利要求书】:

1.一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,获取参考人脸的标记点以及眼袋区域的蒙版;

S2,当前帧进行人脸检测,并记录参考人脸的标记点;

S3,将当前帧的标记点和参考帧标记点进行回归,得到最优变换矩阵;

S4,将参考眼袋区域蒙版经过变换矩阵映射到当前帧,得到当前帧的眼袋区域蒙版;

S5,通过蒙版裁切出眼袋区域;

S6,对眼袋区域进行低频滤波;

S7,对蒙版进行高斯羽化处理;

S8,利用混合公式将低频图像与原图进行混合。

2.根据权利要求1所述的一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法,其特征在于,所述步骤S3具体包括以下子步骤:

S31,可选标记点为左右眼的内眼角和鼻沟正中心,总共标记点数量记为N;

S32,参考点的标记点记SrcMarks,当前帧人脸的标记记为DstMarks,SrcMarks和DstMarks分别为3*N矩阵,其中每一列为一个标记点的齐次坐标;变换矩阵记为M为3*3变换矩阵,则正向变换为DstMarks=M*SrcMarks,其中,变换矩阵M可通过最小二乘法计算获得。

3.根据权利要求1所述的一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法,其特征在于,所述步骤S6中对眼袋区域进行低频滤波具体包括:使用滤波器核h对眼袋区域进行低频滤波,滤波过程如下式所示:

Ω为核尺寸;

其中,h为滤波器核,src为原始图像,skin为肤色模板,lowpass为滤波结果,m,n为当前像素点的坐标,i,j为滤波器核的坐标。

4.根据权利要求1所述的一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法,其特征在于,所述步骤S8中的混合公式如下式所示:

dst=(1.0-mask)*src+mask*lowpass;

其中,dst为混合结果,mask为混合蒙版。

5.根据权利要求1所述的一种用于非编工程中人脸关键点的祛眼袋方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括:参考点的标记点坐标记SrcMarks,当前帧人脸的标记点坐标为DstMarks,SrcMarks和DstMarks分别为3*N矩阵,其中每一列为一个标记点的齐次坐标;变换矩阵记为M为3*3变换矩阵,则正向变换为DStMarks=M*SrcMarks,其中,变换矩阵M可通过最小二乘法进行求解。

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