[发明专利]芯片封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202110477284.3 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113380725A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 周云;曾昭孔;郭瑞亮;陈武伟 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 芯片 封装 结构 方法
【说明书】:

本申请公开了一种芯片封装结构及封装方法,该结构包括:基板,贴覆在该基板上的芯片,以及覆盖该芯片的散热盖,该芯片周围设置有填充层。本申请实施例通过在散热该与基板之间设置填充层,使得该填充层将贴覆在基板上的芯片包围,从而可以利用该填充层在基板与散热盖之间起缓冲作用,以控制基板的变形,进而避免由于基板的变形而导致散热盖变形,保证了芯片与基板的良好接触,提升了产品良率。

技术领域

发明一般涉及封装技术领域,尤其涉及一种芯片封装结构及封装方法。

背景技术

封装技术是一种将集成电路用绝缘的塑料或陶瓷材料打包的技术。目前,在芯片封装领域,特别是在大功率、大尺寸领域内,倒装芯片封装技术应用越来越广泛。

现有大尺寸倒装封装产品,具体的封装流程为:在裸基板上贴覆芯片,以及在芯片周围设置附加元器件,最后在芯片上贴散热盖,以完成芯片倒装结构。

对于上述的芯片封装结构,由于基板及散热盖的翘曲,导致产品在高温回流过程中,芯片与基板出现焊接不良的现象,以及散热盖与芯片接触不好,最终导致产品故障,散热不佳。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种芯片封装结构及封装方法,通过在芯片周围设置填充层,以在基板与散热盖之间提供缓冲。

第一方面,本申请实施例提供了一种芯片封装结构,包括:基板,贴覆在该基板上的芯片,以及覆盖该芯片的散热盖,该芯片周围设置有填充层。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该填充层为中间设置有放置该芯片的开口的环状结构。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该填充层的材料通过纤维材料及树脂合成,或二氧化硅及树脂合成。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该芯片周围设置有被动元器件,该填充层覆盖该被动元器件。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该基板边缘设置有加固片。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该加固片为设置在该基板边缘的环装结构。

可选的,本申请实施例的芯片封装结构,该芯片底部设置有底封胶,该芯片顶部设置有散热胶。

第二方面,本申请实施例提供了一种芯片封装方法,该方法包括:

在基板上设置贴覆芯片;

在该芯片周围设置填充层;

在该芯片及该填充层上设置散热盖。

可选的,本申请实施例的芯片封装方法,在基板上贴覆芯片之前,该方法还包括:

在该基板的边缘设置加固片。

可选的,本申请实施例的芯片封装方法,在基板上贴覆芯片之前,该方法还包括:

在该基板上贴覆芯片的位置设置底封胶,

在该基板上贴覆芯片之后,该方法还包括:

在该芯片顶部设置散热胶。

综上所述,本申请实施例提供的芯片封装结构及封装方法,在大尺寸芯片到封装技术中,通过在散热该与基板之间设置填充层,使得该填充层将贴覆在基板上的芯片包围,从而可以利用该填充层在基板与散热盖之间起缓冲作用,以控制基板的变形,进而避免由于基板的变形而导致散热盖变形,保证了芯片与基板的良好接触,提升了产品良率。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:

图1为现有技术中倒封装结构发生翘曲的结构示意图;

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