[发明专利]半导体结构的制备方法和半导体结构有效

专利信息
申请号: 202110476539.4 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113192828B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 宛强;占康澍;夏军;李森;徐朋辉;刘涛 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/768;H10B12/00;H01L21/336;H01L29/78
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 王欢;黄健
地址: 230011 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 制备 方法
【说明书】:

发明提供一种半导体结构的制备方法和半导体结构,涉及半导体技术领域,旨在解决半导体的外围电路中晶体管稳定性较低的问题。该半导体的制备方法包括提供基底;基底中具有有源区;在基底上形成栅极层;在栅极层的外周形成隔离结构;在远离栅极层的方向上,隔离结构至少包括中空部和隔离部;在栅极层和隔离结构的顶表面上形成绝缘结构;形成接触插塞;接触插塞穿设绝缘结构,接触插塞靠近基底的一端与有源区电连接,接触插塞位于隔离结构的远离栅极层的一侧;形成导电层;导电层与接触插塞远离基底的一端电连接。本发明能够有效提高半导体结构中晶体管的稳定性,提升半导体结构的工作性能。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构的制备方法和半导体结构。

背景技术

动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,简称DRAM)是一种高速地、随机地写入和读取数据的半导体存储器,被广泛地应用到数据存储设备或装置中。

DRAM器件的电路结构包括位于核心区域的核心电路,以及位于外围区域的外围电路。其中,核心区域中分布有多个呈阵列排布的存储单元,核心电路主要用于为多个存储单元提供驱动电流,以实现存储单元的存储过程。外围电路围设在核心电路的外围,主要用于为核心电路提供驱动电流,同时控制核心电路的工作时序。外围电路中主要包括晶体管,晶体管结构的稳定性影响外围电路的工作性能。

然而,目前的外围电路中,晶体管的稳定性较低,影响外围电路的工作性能。

发明内容

为了解决背景技术中提到的至少一个问题,本发明提供一种半导体结构的制备方法和半导体结构,能够有效提高半导体结构中晶体管的稳定性,提升半导体结构的工作性能。

为了实现上述目的,第一方面,本发明提供一种半导体结构的制备方法,包括:

提供基底;基底中具有有源区。

在基底上形成栅极层。

在栅极层的外周形成隔离结构;在远离栅极层的方向上,隔离结构至少包括中空部和隔离部。

在隔离结构的顶表面上形成绝缘结构。

形成接触插塞;接触插塞穿设绝缘结构,接触插塞靠近基底的一端与有源区电连接,接触插塞位于隔离结构的远离栅极层的一侧。

形成导电层;导电层与接触插塞远离基底的一端电连接。

本发明提供的半导体结构的制备方法,通过在基底上形成栅极层,并且在栅极层的外周形成隔离结构,利用隔离结构保护栅极层。通过在隔离结构的远离栅极层的一侧形成接触插塞,利用接触插塞连接有源区和导电层,实现有源区与导电层之间电信号传输。其中,通过将隔离结构设置在为中空部和隔离部,通过中空部形成空气隙(Air Gap),通过中空部和隔离部共同阻隔栅极层和接触插塞,避免两者之间发生电接触或信号干扰的问题,从而有助于减小半导体结构的特征尺寸,提高半导体结构的稳定性,从而提升半导体结构的工作性能。

在上述的半导体结构的制备方法中,可选的是,在提供基底的步骤中,包括:

在基底中形成有源区和隔离区;

在有源区中形成依次排布的源极区、源极低掺杂区、沟道区、漏极低掺杂区和漏极区。

通过设置源极低掺杂区和漏极低掺杂区,可以与隔离结构相互配合,并且有助于减小源漏极之间的漏电流。

在上述的半导体结构的制备方法中,可选的是,在基底上形成栅极层的步骤中,包括:

在基底上形成第一介质层;第一介质层与沟道区相对设置;

在第一介质层的顶表面上形成栅极半导体层;

在栅极半导体层的顶表面上形成栅极导电层;

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