[发明专利]半导体结构的制备方法和半导体结构有效
申请号: | 202110476539.4 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113192828B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 宛强;占康澍;夏军;李森;徐朋辉;刘涛 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/768;H10B12/00;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 王欢;黄健 |
地址: | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 结构 制备 方法 | ||
本发明提供一种半导体结构的制备方法和半导体结构,涉及半导体技术领域,旨在解决半导体的外围电路中晶体管稳定性较低的问题。该半导体的制备方法包括提供基底;基底中具有有源区;在基底上形成栅极层;在栅极层的外周形成隔离结构;在远离栅极层的方向上,隔离结构至少包括中空部和隔离部;在栅极层和隔离结构的顶表面上形成绝缘结构;形成接触插塞;接触插塞穿设绝缘结构,接触插塞靠近基底的一端与有源区电连接,接触插塞位于隔离结构的远离栅极层的一侧;形成导电层;导电层与接触插塞远离基底的一端电连接。本发明能够有效提高半导体结构中晶体管的稳定性,提升半导体结构的工作性能。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构的制备方法和半导体结构。
背景技术
动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,简称DRAM)是一种高速地、随机地写入和读取数据的半导体存储器,被广泛地应用到数据存储设备或装置中。
DRAM器件的电路结构包括位于核心区域的核心电路,以及位于外围区域的外围电路。其中,核心区域中分布有多个呈阵列排布的存储单元,核心电路主要用于为多个存储单元提供驱动电流,以实现存储单元的存储过程。外围电路围设在核心电路的外围,主要用于为核心电路提供驱动电流,同时控制核心电路的工作时序。外围电路中主要包括晶体管,晶体管结构的稳定性影响外围电路的工作性能。
然而,目前的外围电路中,晶体管的稳定性较低,影响外围电路的工作性能。
发明内容
为了解决背景技术中提到的至少一个问题,本发明提供一种半导体结构的制备方法和半导体结构,能够有效提高半导体结构中晶体管的稳定性,提升半导体结构的工作性能。
为了实现上述目的,第一方面,本发明提供一种半导体结构的制备方法,包括:
提供基底;基底中具有有源区。
在基底上形成栅极层。
在栅极层的外周形成隔离结构;在远离栅极层的方向上,隔离结构至少包括中空部和隔离部。
在隔离结构的顶表面上形成绝缘结构。
形成接触插塞;接触插塞穿设绝缘结构,接触插塞靠近基底的一端与有源区电连接,接触插塞位于隔离结构的远离栅极层的一侧。
形成导电层;导电层与接触插塞远离基底的一端电连接。
本发明提供的半导体结构的制备方法,通过在基底上形成栅极层,并且在栅极层的外周形成隔离结构,利用隔离结构保护栅极层。通过在隔离结构的远离栅极层的一侧形成接触插塞,利用接触插塞连接有源区和导电层,实现有源区与导电层之间电信号传输。其中,通过将隔离结构设置在为中空部和隔离部,通过中空部形成空气隙(Air Gap),通过中空部和隔离部共同阻隔栅极层和接触插塞,避免两者之间发生电接触或信号干扰的问题,从而有助于减小半导体结构的特征尺寸,提高半导体结构的稳定性,从而提升半导体结构的工作性能。
在上述的半导体结构的制备方法中,可选的是,在提供基底的步骤中,包括:
在基底中形成有源区和隔离区;
在有源区中形成依次排布的源极区、源极低掺杂区、沟道区、漏极低掺杂区和漏极区。
通过设置源极低掺杂区和漏极低掺杂区,可以与隔离结构相互配合,并且有助于减小源漏极之间的漏电流。
在上述的半导体结构的制备方法中,可选的是,在基底上形成栅极层的步骤中,包括:
在基底上形成第一介质层;第一介质层与沟道区相对设置;
在第一介质层的顶表面上形成栅极半导体层;
在栅极半导体层的顶表面上形成栅极导电层;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造