[发明专利]内径千分尺校准检具及其成型方法、检验方法

说明书

本申请涉及一种内径千分尺校准检具，包括底座、第一测量部和第二测量部，所述第一测量部与所述第二测量部相对称地设置于所述底座上，所述第一测量部在远离所述底座的方向设置有多个第一阶梯面，所述第二测量部在远离所述底座的方向设置有多个第二阶梯面，所述第一阶梯面与所述第二阶梯面相对分布，且相对应的所述第一阶梯面与所述第二阶梯面之间的测量距离在远离所述底座的方向逐渐增大或减小，内径千分尺放置于所述第一阶梯面与所述第二阶梯面之间以测量所述内径千分尺的误差大小。本方案能够解决目前的内径千分尺较难实现校准，导致对工件内径尺寸的校验存在较大偏差的问题。

技术领域

本发明涉及校准检具技术领域，特别是涉及一种内径千分尺校准检具及其成型方法、检验方法。

背景技术

通常机械行业内大型内径千分尺的校准都依托于第三方检验机构进行校准，在校准周期内，内径千分尺是否有效只能通过测量标准测头尺寸是否正确来确定内径千分尺是否有效，这种方法对于刚刚校准完毕的内径千分尺是有效的。但是对于需要经常在复杂环境中使用的内径千分尺来说，在固定周期内的校准以及每次使用前只针对标准侧头进行复查的这种方式存在很大漏洞。

而且，大型内径尺寸在检验时往往需要组合多段内径千分尺进行测量，在组合过程中用到的超过100mm的分段内径千分尺以及组合以后的内径千分尺总的长度是否有效需要进一步的验证，此时如果只是单纯的将固定周期内的内径千分尺校检报告中每段内径千分尺校检尺寸加和来确定偏差的话，会因为累计误差或内径千分尺本身分段尺寸变形，从而对产品本身的目标尺寸造成误测，进而影响后续的工作。

发明内容

基于此，有必要针对目前的内径千分尺较难实现校准，导致对工件内径尺寸的校验存在较大偏差的问题，提供一种内径千分尺校准检具及其成型方法、校验方法。

为了解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

第一方面，本发明实施例公开一种内径千分尺校准检具，包括底座、第一测量部和第二测量部，所述第一测量部与所述第二测量部相对称地设置于所述底座上，所述第一测量部在远离所述底座的方向设置有多个第一阶梯面，所述第二测量部在远离所述底座的方向设置有多个第二阶梯面，所述第一阶梯面与所述第二阶梯面相对分布，且相对应的所述第一阶梯面与所述第二阶梯面之间的测量距离在远离所述底座的方向逐渐增大或减小，内径千分尺放置于所述第一阶梯面与所述第二阶梯面之间以测量所述内径千分尺的误差大小。

在其中一种实施例中，所述第一测量部和所述第二测量部的数量为多个，多个所述第一测量部和多个所述第二测量部均在所述底座的宽度方向间隔分布，且多个相对应的所述第一阶梯面与所述第二阶梯面之间的测量距离各不相同。

在其中一种实施例中，所述内径千分尺校准检具上间隔开设有多个减重孔。

在其中一种实施例中，所述底座、所述第一测量部和所述第二测量部为一体成型件。

在其中一种实施例中，所述一体成型件的材质为球磨铸铁。

在其中一种实施例中，所述内径千分尺校准检具的表面喷涂有防锈漆。

第二方面，本发明实施例公开一种校准检具的成型方法，应用于上述的内径千分尺校准检具，包括：

制作用于形成检具毛坯的砂箱，所述砂箱为多个分箱组合形成；

根据浇注工艺进行浇注，以形成检具毛坯；

按照化学成分、金相检验、力学性能、外观检验、形状尺寸、表面粗糙度、无损检测及称重记录对检具毛坯进行测验；

依次加工第一测量部上的第一阶梯面和第二测量部上的第二阶梯面；

去毛刺检测。

在其中一种实施例中，在所述去毛刺检测之前，所述成型方法还包括：对内径千分尺校准检具的表面进行涂漆处理。