[发明专利]内径千分尺校准检具及其成型方法、检验方法

权利要求书

1.一种内径千分尺校准检具，其特征在于，包括底座(100)、第一测量部(200)和第二测量部(300)，所述第一测量部(200)与所述第二测量部(300)相对称地设置于所述底座(100)上，所述第一测量部(200)在远离所述底座(100)的方向设置有多个第一阶梯面(210)，所述第二测量部(300)在远离所述底座(100)的方向设置有多个第二阶梯面(310)，所述第一阶梯面(210)与所述第二阶梯面(310)相对分布，且相对应的所述第一阶梯面(210)与所述第二阶梯面(310)之间的测量距离在远离所述底座(100)的方向逐渐增大或减小，所述第一测量部(200)和所述第二测量部(300)的数量为多个，多个所述第一测量部(200)和多个所述第二测量部(300)均在所述底座(100)的宽度方向间隔分布，且多个相对应的所述第一阶梯面(210)与所述第二阶梯面(310)之间的测量距离各不相同，内径千分尺(500)放置于所述第一阶梯面(210)与所述第二阶梯面(310)之间以测量所述内径千分尺(500)的误差大小。

2.根据权利要求1所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，所述内径千分尺校准检具上间隔开设有多个减重孔(400)。

3.根据权利要求1所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，所述底座(100)、所述第一测量部(200)和所述第二测量部(300)为一体成型件。

4.根据权利要求3所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，所述一体成型件的材质为球磨铸铁。

5.根据权利要求1所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，所述内径千分尺校准检具的表面喷涂有防锈漆。

6.一种校准检具的成型方法，应用于权利要求3中所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，包括：

制作用于形成检具毛坯的砂箱，所述砂箱为多个分箱组合形成；

根据浇注工艺进行浇注，以形成检具毛坯；

按照化学成分、金相检验、力学性能、外观检验、形状尺寸、表面粗糙度、无损检测及称重记录对检具毛坯进行测验；

依次加工第一测量部(200)上的第一阶梯面(210)和第二测量部(300)上的第二阶梯面(310)；

去毛刺检测。

7.根据权利要求6所述的成型方法，其特征在于，在所述去毛刺检测之前，所述成型方法还包括：对内径千分尺校准检具的表面进行涂漆处理。

8.根据权利要求6所述的成型方法，其特征在于，所述依次加工第一测量部(200)上的第一阶梯面(210)和第二测量部(300)上的第二阶梯面(310)具体包括：依次精加工第一测量部(200)上的第一阶梯面(210)和第二测量部(300)上的第二阶梯面(310)，且控制第一阶梯面(210)和第二阶梯面(310)的粗糙度为Ra3.2。

9.一种校验方法，应用于权利要求1至5任一项所述的内径千分尺校准检具，其特征在于，包括：

将内径千分尺(500)放置于校准检具上与内径千分尺(500)的尺寸相对应的第一阶梯面(210)与第二阶梯面(310)之间，以检测出测量误差；

通过内径千分尺(500)测量出工件内径的实际尺寸；

计算出实际尺寸与测量误差之间的差值，以得到工件内径的校准尺寸。