[发明专利]一种银合金键合丝抗老化性测试装置及其使用方法

权利要求书

1.一种银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法，用于银合金键合丝抗老化性测试装置，所述测试装置包括测试台(1)和数显拉力传感器(5)，所述测试台(1)的顶部安装有滑轨(2)，两组所述滑轨(2)的顶部均滑动连接有滑块(3)，其特征在于，所述测试台(1)的顶部一侧安装有数显拉力传感器(5)，且数显拉力传感器(5)的端部安装有挂钩(6)；所述滑块(3)的顶部安装有可调节的检测台(4)；所述测试台(1)的两端均通过螺栓安装有带轴承的轴承座(18)，所述轴承座(18)的内部插接有光轴(19)，两组所述光轴(19)之间通过联轴器安装有滚珠丝杠(20)，所述滚珠丝杠(20)的螺母通过连接块固定连接于检测台(4)的底部；所述检测台(4)的顶部一侧设有可调节的拉伸度检测组件；所述拉伸度检测组件包括开设于检测台(4)顶部的定位孔(7)，所述定位孔(7)设置有两组，且每组至少有四个，两组所述定位孔(7)相互错开排列，所述定位孔(7)的内部活动插接有导柱(8)，所述导柱(8)的外部开设有环形槽(9)，且环形槽(9)的内壁设置为光滑结构；所述检测台(4)的顶部另一侧设有键合丝电阻率检测组件，所述键合丝电阻率检测组件包括滑动电阻器(14)和电流表(15)，所述滑动电阻器(14)和电流表(15)分别安装在检测台(4)的顶部两端，所述滑动电阻器(14)和电流表(15)上均通过缆线电性连接有可更换的电极片(16)；其中所述使用方法，包括如下步骤：

S1、取样，根据检测的需要，采取一定长度的银合金键合丝试样；

S2、放置导柱，根据键合丝试样的长度，将相应数量的导柱插在定位孔中；

S3、绕线，将键合丝试样的中心处挂在数显拉力传感器的挂钩上，然后将键合丝试样的两端依次呈S型绕在导柱表面的环形槽中；

S4、焊接，将键合丝试样的两端部分别焊接在滑动电阻器和电流表相对应的电机片上，然后转动滚珠丝杠带动检测台移动，将键合丝试样拉紧，并计算输出键合丝试样的准确的长度；

S5、强度和拉伸度测试，间接性的转动滚珠丝杠带动检测台移动，对键合丝试样进行拉伸，在转动时，要观察数显拉力传感器的数值变化并记录，同时观察电机片焊接点的牢固情况，待试样强度符合标准时，停止转动滚珠丝杠；

S6、电阻率测试，将滑动电阻器通电，观察电流表数值变化，在键合丝试样符合导电率的标准之后，拆下键合丝试样；

S7、拉伸度检测，对试验后的键合丝试样进行长度测量，测量出的长度与S4中的长度做对比，并计算出其拉伸率。

2.根据权利要求1所述的银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法，其特征在于：所述导柱(8)的下端一侧开设有凹槽(10)，所述凹槽(10)的内部固定连接有弹片(11)，所述弹片(11)的端部固定连接有限位块(12)，所述定位孔(7)的内壁开设有与限位块(12)相匹配的限位槽(13)，且限位块(12)设置为半球形结构。

3.根据权利要求1所述的银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法，其特征在于：所述检测台(4)的顶部固定连接有弹簧夹(17)，所述电极片(16)夹持与弹簧夹(17)的内部，且弹簧夹(17)的内侧粘接有绝缘垫。

4.根据权利要求1所述的银合金键合丝抗老化性测试装置的使用方法，其特征在于：所述滑块(3)的内侧安装有万向球(21)，所述滑轨(2)的顶部开设有与万向球(21)相匹配的导槽(22)。