[发明专利]一种光源的探测设备及光源的检测方法

权利要求书

1.一种光源的探测设备，其特征在于，包括：

载台，用于设置光源；

探针卡，位于所述载台上；

移动单元，连接所述载台或所述探测卡；

其中，所述探针卡包括：

基板，包括相对设置的第一表面和第二表面；

探针组件，设置在所述基板上，用于接触所述光源；

驱动单元，设置在所述探针组件上，用于驱动所述光源；

其中，所述光源包括基底以及位于所述基底上的多个发光芯片。

2.根据权利要求1所述的光源的探测设备，其特征在于，所述探针组件包括：

固定部，设置在所述第一表面或所述第二表面上；

探针，连接所述固定部，包括一探针头。

3.根据权利要求2所述的光源的探测设备，其特征在于，所述驱动单元设置在所述探针上，所述驱动单元为纳秒级驱动单元。

4.根据权利要求1所述的光源的探测设备，其特征在于，所述基板上设置有通孔，所述通孔对位于所述光源的出光区。

5.根据权利要求4所述的光源的探测设备，其特征在于，所述第二表面上设置有积分球，所述光源发射的光线通过所述通孔照射在所述积分球上。

6.根据权利要求5所述的光源的探测设备，其特征在于，所述积分球通过安装臂固定在所述第二表面上。

7.根据权利要求1所述的光源的探测设备，其特征在于，所述第一表面上设置有光电探测器，所述光电探测器对位于所述光源的出光区。

8.根据权利要求4所述的光源的探测设备，其特征在于，所述第一表面上设置有光学元件，所述通孔内设置有光电探测器，所述光学元件覆盖所述光电探测器。

9.根据权利要求2所述的光源的探测设备，其特征在于，还包括示波器，所述示波器的正极连接所述探针的正极，所述示波器的负极连接所述载台。

10.根据权利要求1所述的光源的探测设备，其特征在于，所述发光芯片包括正极区和负极区，所述正极区和所述负极区设置在所述发光芯片的同一侧。

11.一种光源的检测方法，其特征在于，包括：

提供一探测设备，其中所述探测设备包括：

载台；

探针卡，位于所述载台上；

移动单元，连接所述载台或所述探测卡；

其中，所述探针卡包括：

基板，包括相对设置的第一表面和第二表面；

探针组件，设置在所述基板上；

驱动单元，设置在所述探针组件上；

将光源设置在所述载台上，所述光源包括基底以及位于所述基底上的多个发光芯片；

通过所述探针组件接触所述光源，以对所述光源进行检测。