[发明专利]模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置

说明书

本发明公开了一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置，其中，上述方法包括：获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。采用上述技术方案，解决了传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题。

技术领域

本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置。

背景技术

深空探测干涉测量一般采用射电源-航天器-射电源的交替观测模式，通过前后两次射电源观测实现链路时延、设备时延等误差标校。理论分析和实测数据处理结果表明，射电源标校精度直接影响航天器的测量精度。射电源越强、与航天器的视线方向角距越小，用强射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的精度越高。

但在深空探测中，小角距、强射电源可选较少，甚至不存在而必须选择弱射电信号进行差分标校。而研究弱射电源的高精度标校方法，提高小角距、弱射电源的相关处理精度，降低差分标校误差，在干涉测量数据处理方法研究中具有重要意义。

针对相关技术，传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置，以至少解决传统方法用弱射电源对探测器干涉测量的结果进行差分标校的过程中，标校精度较低等问题。

根据本发明实施例的一个实施例，提供一种模型的修正方法，包括：获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型，以根据所述相关时延模型对所述弱射电源的信号进行干涉测量。

在一个示例性实施例中，根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。

在一个示例性实施例中，根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：对所述强射电源的互功率谱数据进行整合，以确定所述干涉测量观测的各个积分周期内的互谱相位；对所述各个积分周期内的互谱相位进行最小二乘估计，以确定残余时延率；根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型。

在一个示例性实施例中，根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型，包括：根据所述述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型确定残余时延率模型；将所述残余时延率模型作为构建的所述系统时延模型。

在一个示例性实施例中，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型，包括：将所述系统时延模型与所述弱射电源的理论时延模型相加，得到目标相关时延模型；根据所述目标时延模型更新所述弱射电源的相关时延模型。

在一个示例性实施例中，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型之后，还包括：根据所述相关时延模型对所述弱射电源进行相关处理得到所述弱射电源干涉测量观测量，用于对探测器干涉测量观测量进行差分标校。