[发明专利]模型的修正方法及装置、存储介质及电子装置

权利要求书

1.一种模型的修正方法，其特征在于，包括：

获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；

根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；

根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：

通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；

根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，包括：

对所述强射电源的互功率谱数据进行整合，以确定所述干涉测量观测的各个积分周期内的互谱相位；

对所述各个积分周期内的互谱相位进行最小二乘估计，以确定残余时延率；

根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型构建所述系统时延模型，包括：

根据所述述残余时延率和所述强射电源的理论时延模型确定残余时延率模型；

将所述残余时延率模型作为构建的所述系统时延模型。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型，包括：

将所述系统时延模型与所述弱射电源的理论时延模型相加，得到目标相关时延模型；

根据所述目标时延模型更新所述弱射电源的相关时延模型。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型之后，还包括：

通过两个测站对所述探测器进行干涉测量，得到干涉测量结果；

根据所述相关时延模型对所述干涉测量结果进行差分标校。

7.一种模型的修正装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取强射电源的理论时延模型以及弱射电源的理论时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源用于对同一深空探测器差分标校；

构建模块，用于根据所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型，其中，所述强射电源和所述弱射电源的系统时延模型相同；

修正模型，用于根据所述系统时延模型和所述弱射电源的理论时延模型修正所述弱射电源的相关时延模型。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述构建模块，还用于通过两个测站对所述强射电源进行干涉测量相关处理，得到所述强射电源的互功率谱；根据所述强射电源的互功率谱和所述强射电源的理论时延模型构建系统时延模型。

9.一种计算机可读的存储介质，其特征在于，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行上述权利要求1至6任一项中所述的方法。

10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述权利要求1至6任一项中所述的方法。