[发明专利]一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法及优化系统

说明书

本发明公开了一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法及优化系统，包括以下步骤：S1，制备试样工件，在试样工件上制作m个缺陷；S2，设置检测参数对所述试样工件进行n次缺陷检测，每一个缺陷获得n个信号响应数据；S3，对预实验得到的信号响应数据进行建模，获得POD曲线，并对POD曲线设置置信度阈值；S4，采用与步骤S2中相同的检测参数对所述待测工件进行检测，获得缺陷参数；S5，判断步骤S4中获得的缺陷参数是否落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内，若是，所述检测参数对所述待测工件进行检测获得的所述缺陷参数为合格参数，若否，执行步骤S6；S6，调节检测参数后重复步骤S2‑S5，直至步骤S4中获得的缺陷参数落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内。

技术领域

本发明属于无损检测技术领域，具体地说，涉及一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法及优化系统。

背景技术

在实际的无损检测过程中，设置不同的检测参数会影响缺陷的检测效果，各种各样的因素都会影响到缺陷的检出率，比如：设备的检测参数、操作人员的熟练程度、被检测对象的材质、缺陷的大小和形状等等，即使是在所有检测参数的设置都相同的情况下，让同一个操作者对同一缺陷进行多次检测，也可能得出不一样的检测结果，参数的可靠性无法得到有效的保证。

目前，利用POD分析软件得到信号响应数据的线性模型，根据线性回归模型的方差分析检测信号响应数据偏离线性回归模型的程度，评价在无损检测过程中，所用检测参数对缺陷检出质量的可靠性和置信度。

因此，如何实时快捷地得到具有较高置信度的检测参数是目前亟需解决的技术问题。

有鉴于此特提出本发明。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，通过将缺陷检测与参数优化在同一系统下实时进行，同时实现材料内部缺陷检测与检测参数的置信度优化，从而实时快捷地得到具有较高置信度的检测参数。

本发明还提供一种用于实施上述基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法的优化系统。

为解决上述技术问题，本发明采用技术方案的基本构思是：

一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，包括以下步骤：

S1，制备试样工件，所述试样工件的主成分的比例与待测工件的主成分的比例之间的差值在设定范围内，在所述试样工件上制作m个缺陷，所述m个缺陷具有同一类别的缺陷参数；

S2，预实验，设置检测参数对所述试样工件进行n次缺陷检测，每一个缺陷获得n个信号响应数据；

S3，建立POD模型，对预实验得到的信号响应数据进行建模，获得POD曲线，并对所述POD曲线设置置信度阈值；

S4，检测待测工件，采用与步骤S2中相同的检测参数对所述待测工件进行检测，获得缺陷参数；

S5，POD定量分析，判断步骤S4中获得的缺陷参数是否落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内，若是，步骤S4中采用所述第一组检测参数对所述待测工件进行检测获得的所述缺陷参数为合格参数，若否，执行步骤S6；

S6，优化检测参数，调节检测参数后重复步骤S2-S5，直至步骤S4中获得的缺陷参数落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内。

进一步的，所述缺陷参数的类别为如下中的任意一种：

缺陷在待测工件中的深度、缺陷的长度、缺陷的宽度。

进一步的，步骤S3中，对所述POD曲线设置置信度阈值包括；

根据设定的缺陷检出率设置置信度阈值。