[发明专利]一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法及优化系统

权利要求书

1.一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1，制备试样工件，所述试样工件的主成分的比例与待测工件的主成分的比例之间的差值在设定范围内，在所述试样工件上制作m个缺陷，所述m个缺陷具有同一类别的缺陷参数；

S2，预实验，设置检测参数对所述试样工件进行n次缺陷检测，每一个缺陷获得n个信号响应数据；

S3，建立POD模型，对预实验得到的信号响应数据进行建模，获得POD曲线；设定缺陷检出率，并根据设定的缺陷检出率对所述POD曲线设置置信度阈值；

S4，检测待测工件，采用与步骤S2中相同的检测参数对所述待测工件进行检测，获得缺陷参数；

S5，POD定量分析，判断步骤S4中获得的缺陷参数是否落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内，若是，采用步骤S4中的检测参数对所述待测工件进行检测获得的所述缺陷参数为合格参数，若否，执行步骤S6；

S6，优化检测参数，调节检测参数后重复步骤S2-S5，直至步骤S4中获得的缺陷参数落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内：

在原有检测参数的基础上进行小幅度的参数调节，利用调节后的检测参数进行预实验、建立POD模型，得到新的POD曲线，根据设定的缺陷检出率对新的POD曲线设置置信度阈值；直至利用调节后的检测参数对待测工件进行检测时，步骤S4中获得的缺陷参数落入步骤S3中的所述置信度阈值范围内，此时的检测参数为对待测工件进行缺陷检测的最优化的检测参数。

2.根据权利要求1所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，其特征在于：

所述缺陷参数的类别为如下中的任意一种：

缺陷在待测工件中的深度、缺陷的长度、缺陷的宽度。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，其特征在于：

步骤S2对所述试样工件进行缺陷检测和步骤S4中对所述待测工件进行缺陷检测均采用超声波检测。

4.根据权利要求3所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法，其特征在于：

所述检测参数至少包括波形纵波、频率和阵元数。

5.一种用于实现上述权利要求1至4任一所述基于POD定量分析的缺陷检测参数优化方法的基于POD定量分析的缺陷检测参数优化系统，其特征在于：包括

缺陷探伤仪，用于对所述试样工件和所述待测工件的缺陷进行检测；

检测参数调节模块，与所述缺陷探伤仪连接，用于调节所述缺陷探伤仪在进行缺陷检测时所采用的检测参数；

POD曲线数据库，用于存储POD曲线，所述POD曲线表征在特定检测参数下的置信度阈值；

POD分析模块，与所述缺陷探伤仪和所述POD曲线数据库连接，用于获取所述缺陷探伤仪检测到的缺陷参数，并根据所述缺陷参数和所述置信度阈值确定是否对所述缺陷探伤仪在检测待测工件的缺陷时所采用的检测参数进行优化。

6.根据权利要求5所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化系统，其特征在于：

所述缺陷探伤仪为如下中的任意一种：

超声相控阵探伤仪、磁粉探伤仪、涡流探伤仪、射线探伤仪和荧光探伤仪。

7.根据权利要求5所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化系统，其特征在于：还包括工控机，

所述检测参数调节模块、所述POD曲线数据库、和所述POD分析模块均设置在所述工控机内，所述工控机与所述缺陷探伤仪连接。

8.根据权利要求7所述的一种基于POD定量分析的缺陷检测参数优化系统，其特征在于：还包括缺陷显示仪，

所述缺陷显示仪与所述工控机连接，显示所述缺陷探伤仪检测到的缺陷。