[发明专利]一种超高层建筑物垂直度测控方法

说明书

本发明涉及人工智能技术领域，具体涉及一种超高层建筑物垂直度测控方法。该方法包括：采集不同焦距下建筑物的预留孔图像，预留孔的中心位于图像中心；并提取每张预留孔图像中每层预留孔的轮廓；对每张预留孔图像，分别连接预留孔每条边上同比例的点，获取多条立体线；根据立体线的间隔距离计算每张预留孔图像的相对垂直度；相对垂直度以垂直度偏差和偏差方向来表征；对于同一层预留孔在不同焦距下的预留孔图像，根据相对垂直度的可靠度对其进行筛选获得有效数据，通过筛选过的所有相对垂直度进行整合获取绝对垂直度。本发明实施例能够准确地得到超高层建筑物的垂直度，操作简便，精确度高。

技术领域

本发明涉及人工智能技术领域，具体涉及一种超高层建筑物垂直度测控方法。

背景技术

高层建筑物在施工建设过程中会产生竖直偏差，这种偏差若在一定限度内属于正常现象，但如果超过规定的限度，就会影响建筑物的正常使用，严重时甚至会危及建筑物的安全，因此，对于高层建筑物进行垂直度监测是非常必要的。

目前，超高层建筑物的垂直度测控多采用内控法，即以激光铅直仪或吊锤放线的方式通过建筑物内部预留的垂准孔进行检测。

发明人在实践中，发现上述现有技术存在以下缺陷：

吊锤线法受风力等外界环境影响较大，精度相对较低；激光铅直仪方法，需要每层放置透明玻璃板，操作繁琐，容易产生误差。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种超高层建筑物垂直度测控方法，所采用的技术方案具体如下：

本发明一个实施例提供了一种超高层建筑物垂直度测控方法，该方法包括:

采集不同焦距下建筑物的预留孔图像，预留孔的中心位于图像中心；并提取每张所述预留孔图像中每层所述预留孔的轮廓；

对每张所述预留孔图像，连接每两个预留孔轮廓同一侧边上同比例的点，得到多条立体线；根据所述立体线的间隔距离计算每张所述预留孔图像的相对垂直度；所述相对垂直度以垂直度偏差和偏差方向来表征；

对同一层预留孔在不同焦距下的所述预留孔图像进行筛选，选择一层所述预留孔作为参照层，将筛选过的有效数据以所述参照层为参照获得统一标准的垂直度作为绝对垂直度；

所述垂直度偏差的获取步骤为：

获取所述预留孔每条边的立体线，计算每条所述立体线的距离偏差，根据所有所述距离偏差获取垂直度偏差；

进而根据所述距离偏差的反正切函数计算偏差方向。

优选的，所述采集不同焦距下建筑物的预留孔图像之前，该方法还包括以下步骤：

采集焦距最小时的图像，并得到各预留孔的边缘，计算最外层预留孔中心点相对于所述图像中心的偏差，根据所述偏差对相机进行调整。

优选的，所述同一层预留孔的确定方法为：对每层预留孔进行编号记录，以同一编号的预留孔作为同一层预留孔。

优选的，所述获取所述预留孔每条边的立体线之前，该方法还包括以下步骤：

获取每层所述预留孔的轮廓的旋转角度；

根据所述旋转角度对所述预留孔的轮廓进行纠正。

优选的，所述对同一层预留孔在不同焦距下的所述预留孔图像进行筛选的方法为：

根据测量精度、偏差程度和成像畸变程度的加权和获取所述测量质量评价值，选取所述测量质量评价值更高的；所述测量精度与所述测量质量评价值成负相关关系，所述偏差程度与所述测量质量评价值成负相关关系，所述成像畸变程度与所述测量质量评价值成正相关关系。

优选的，所述测量精度的计算方法为：