[发明专利]一种超高层建筑物垂直度测控方法

权利要求书

1.一种超高层建筑物垂直度测控方法，其特征在于，该方法包括:

采集不同焦距下建筑物的预留孔图像，预留孔的中心位于图像中心；并提取每张所述预留孔图像中每层所述预留孔的轮廓；

对每张所述预留孔图像，连接每两个预留孔轮廓同一侧边上同比例的点，得到多条立体线；根据所述立体线的间隔距离计算每张所述预留孔图像的相对垂直度；所述相对垂直度以垂直度偏差和偏差方向来表征；

对同一层预留孔在不同焦距下的所述预留孔图像进行筛选，选择一层所述预留孔作为参照层，将筛选过的有效数据以所述参照层为参照获得统一标准的垂直度作为绝对垂直度；

所述垂直度偏差的获取步骤为：

获取所述预留孔每条边的立体线，计算每条所述立体线的距离偏差，根据所有所述距离偏差获取垂直度偏差；进而根据所述距离偏差的反正切函数计算偏差方向。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集不同焦距下建筑物的预留孔图像之前，该方法还包括以下步骤：

采集焦距最小时的图像，并得到各预留孔的边缘，计算最外层预留孔中心点相对于所述图像中心的偏差，根据所述偏差对相机进行调整。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述同一层预留孔的确定方法为：对每层预留孔进行编号记录，以同一编号的预留孔作为同一层预留孔。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述预留孔每条边的立体线之前，该方法还包括以下步骤：

获取每层所述预留孔的轮廓的旋转角度；

根据所述旋转角度对所述预留孔的轮廓进行纠正。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对同一层预留孔在不同焦距下的所述预留孔图像进行筛选的方法为：

根据测量精度、偏差程度和成像畸变程度的加权和获取测量质量评价值，选取所述测量质量评价值更高的；所述测量精度与所述测量质量评价值成负相关关系，所述偏差程度与所述测量质量评价值成负相关关系，所述成像畸变程度与所述测量质量评价值成正相关关系。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测量精度的计算方法为：

通过计算每个焦距对应的预留孔图像中每层预留孔的拍摄高度与其采用的焦距的比值，获得所述每层预留孔在对应焦距下的测量精度。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述偏差程度的计算方法为：

以每张所述预留孔图像中最外层的预留孔轮廓作为标准轮廓线，计算所述标准轮廓线上的像素点数量与所述每层预留孔的轮廓的像素点数量的倍数关系，获得偏差程度。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述成像畸变程度的获取方法为：

根据所述预留孔轮廓上的点到所述预留孔图像中心的距离比例获取所述成像畸变程度。