[发明专利]一种低辐射镀膜玻璃及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110444767.3 申请日: 2021-04-24
公开(公告)号: CN113185143A 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 刘文龙;王斌;谢荫光;骆陈喜 申请(专利权)人: 苏州晶博特镀膜玻璃有限公司
主分类号: C03C17/36 分类号: C03C17/36;B08B11/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐射 镀膜 玻璃 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种低辐射镀膜玻璃,其特征在于,包括玻璃基板和依次溅射设于玻璃基板上的ZnOx膜、Ag膜、NiCr薄膜和SiNx膜。

2.根据权利要求1所述的一种低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述Ag膜与ZnOx膜之间设有NiCr薄膜。

3.根据权利要求2所述的一种低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述NiCr薄膜的厚度为6-10nm。

4. 根据权利要求1所述的一种低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述SiNx膜的厚度为30-40nm,Ag膜的厚度为8-10nm,NiCr薄膜的厚度为6-10 nm,ZnOx膜的厚度为20-30 nm。

5.一种如权利要求2任一项所述的低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:包括如下步骤:

S1、清洗玻璃基板,干燥;

S2、将镀膜室抽真空,使镀膜室真空度为2*10-2托,充入氧气,使用锌铝靶材,在玻璃基板上沉积ZnOx膜;充入氩气,使用镍铬靶材和银靶材,在ZnOx膜依次沉积NiCr薄膜、Ag膜和NiCr薄膜;充入氮气,使用硅铝靶材,在NiCr薄膜上沉积SiNx膜;

S3、检验,得低辐射镀膜玻璃。

6.根据权利要求5所述的一种低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:步骤S2中,氮气流量为500sccm,氩气流量为700sccm,氧气流量为500sccm。

7.根据权利要求5所述的一种低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:步骤S1中,先利用清洗剂清洗玻璃基板,然后利用去离子水清理玻璃基板,所述清洗剂由以下重量份的原料混合而成:水170-190份,表面活性剂8-10份,氢氧化钾4-5份,碳酸钠1-2份,N-甲基吡咯烷酮1-2份。

8.根据权利要求7所述的一种低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述表面活性剂由重量比为(2-3)∶1的十二烷基葡萄糖苷和月桂酰二乙醇胺混合而成。

9.根据权利要求7所述的一种低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:所述清洗剂中氢氧化钾和碳酸钠的重量比为(3-4)∶1。

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