[发明专利]芯片测试用例管理方法及装置

说明书

本申请提供一种芯片测试用例管理方法及装置。其中，所述方法包括：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。这样，能够在大量测试用例的情况下使得工作人员或检测系统能够及时察觉到芯片测试用例的遗漏，从而保证了芯片验证的完整性并提升芯片验证结果的准确性。

技术领域

本申请涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种芯片测试用例管理方法及装置。

背景技术

随着芯片技术的发展，芯片具有的架构和功能也日益复杂。因此，需要编写大量的测试用例来验证芯片功能的正确性。在进行芯片测试时，由于芯片测试用例的数量以及类别非常多，极易造成测试用例遗漏的现象并无法掌握芯片测试的实时进度。这样，使得工作人员以及检测系统无法及时察觉到芯片测试用例的遗漏，导致芯片验证的完整性有所欠缺，降低了芯片验证结果的准确性。

因此，需要提供一种芯片测试用例管理方法及装置。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片测试用例管理的技术方案，用以解决芯片测试用例易被遗漏的技术问题。

具体的，一种芯片测试用例管理方法，包括以下步骤：

获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；

获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

进一步的，所述方法还包括：

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

输出所述警示信息。

进一步的，所述方法还包括：

根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

输出所述更新后的芯片测试计划集。

进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

获取本次完成测试的测试用例；

调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；

将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。

进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；

根据所述获取周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；

调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；

将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。

进一步的，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例，具体包括：

调用Python数据管理端中的比较算法；