[发明专利]芯片测试用例管理方法及装置

权利要求书

1.一种芯片测试用例管理方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；

获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

2.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，所述方法还包括：

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

输出所述警示信息。

3.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

输出所述更新后的芯片测试计划集。

4.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

获取本次完成测试的测试用例；

调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；

将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。

5.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；

根据所述接收的周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；

调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；

将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。

6.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例，具体包括：

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

7.一种芯片测试用例管理装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；还用于获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

比较模块，用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

提取模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

输出模块，用于通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

8.如权利要求7所述的芯片测试用例管理装置，其特征在于，所述装置还包括：

警示模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

其中，输出模块还用于输出所述警示信息。

9.如权利要求7所述的芯片测试用例管理装置，其特征在于，所述装置还包括：

更新模块，用于根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

其中，输出模块还用于输出所述更新后的芯片测试计划集。

10.如权利要求7所述的芯片测试用例管理装置，其特征在于，所述比较模块用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果，具体用于：

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。