[发明专利]一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置及方法有效
申请号: | 202110422360.0 | 申请日: | 2021-04-20 |
公开(公告)号: | CN113125858B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 高冲;李恩;戴丽妍;张云鹏;高勇;郑虎 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 霍淑利 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 结构 纤维 介电常数 测试 装置 方法 | ||
本发明涉及一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置,属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。本发明的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置中,腔体的设计是在规则谐振腔内部加载对称的金属双脊,达到对电场能量的压缩,使得整个谐振腔的能量在中心汇聚,形成高灵敏的单纤维测试通道,利用位函数和微扰法,实现对单纤维介电性能的准确测试。现有的测试手段几乎无法对高低损耗单纤维介电性能进行直接测试,本发明提出的测试装置和方法弥补了单纤维测试方法的不足,具有更高的可靠性和准确度,且设计加工成本较低。
技术领域
本发明属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域,具体涉及一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置及方法。
背景技术
纤维材料广泛应用于航空航天、武器装备、雷达等重要领域,是功能性复合材料制备的关键原材料。单纤维介电性能的准确性、均匀性和一致性,是研究纤维复合材料性能演变机理以及质量把控的重要保障。在微波毫米波频段内,现有单纤维介电性能的间接测试方法,已无法满足单纤维性能分析的需求,而关于单纤维介电性能直接测试的方法和装置,几乎没有报道,然而测试需求仍然迫切。
关于纤维材料整体介电性能的测试方法非常多,传输反射法、谐振腔法、平面电路法等,这些方法所测的材料可以是纤维复合材料、薄膜材料、混合材料等,最终所测的都是纤维材料的等效介电常数,并非单纤维材料本身。为了实现对单纤维介电性能的反演,混合法则、介电混合模型等方法被提出,实现对单纤维介电性能的理论反算。然而理论反算介电的准确性,很大程度取决于理论反算模型的准确性,由此造成计算结果的准确性和可靠性低。另外,传统谐振腔结构尺寸远大于单纤维尺寸,无法满足单纤维测试灵敏度要求,而小尺寸传输线结构又达不到测试精度要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对现有技术存在的问题,提供一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置及方法,实现单纤维介电性能的高灵敏度准确测试。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置,包括谐振腔上盖板1-1、谐振腔下盖板1-2、具有中空结构的腔体2、SMA接头形式的耦合激励装置3-1和SMA接头形式的耦合接收装置3-2,谐振腔上盖板1-1和谐振腔下盖板1-2安装在腔体2上,构成谐振腔;
所述腔体2的第一侧面和第二侧面均具有第一端面和第二端面,所述第一侧面与所述第二侧面相对设置,所述第二端面高于所述第一端面,谐振腔盖板位于所述第一端面上;
所述腔体2的中空结构中具有对称设置的两个金属脊2-6,所述金属脊2-6由腔体的内侧壁向中空结构中心延伸,且两个金属脊之间具有间隙,所述间隙作为单纤维材料的测试通道2-7;
所述谐振腔上盖板1-1上具有上侧样品孔1-3,所述谐振腔下盖板1-2上具有下侧样品孔1-4,所述单纤维材料通过上侧样品孔1-3,穿过测试通道2-7,由下侧样品孔1-4穿出;
所述耦合激励装置3-1通过所述腔体2第三侧面的第一侧壁孔2-4伸入所述中空结构中,所述耦合接收装置3-2通过所述腔体2第四侧面的第二侧壁孔2-5伸入所述中空结构中,所述第三侧面和所述第四侧面相对设置,所述腔体2的第一侧面和所述腔体2的第三侧面垂直设置。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步的,所述腔体2的第一端面内侧具有第一金属凸台2-2,第一端面外侧具有第二金属凸台2-3,谐振腔上下盖板通过所述第一金属凸台2-2和所述第二金属凸台2-3与所述腔体2接触。
采用上述进一步方案的有益效果是:在保证良好电接触的同时尽可能减小面接触。
进一步的,所述腔体2的内侧壁2-1形状为圆弧形。
进一步的,所述腔体2的圆弧形内侧壁2-1的半径为20mm,高度为20mm。
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