[发明专利]一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置及方法

权利要求书

1.一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，包括谐振腔上盖板(1-1)、谐振腔下盖板(1-2)、具有中空结构的腔体(2)、SMA接头形式的耦合激励装置(3-1)和SMA接头形式的耦合接收装置(3-2)，谐振腔上盖板(1-1)和谐振腔下盖板(1-2)安装在腔体(2)上，构成谐振腔；

所述腔体(2)的第一侧面和第二侧面均具有第一端面和第二端面，所述第一侧面与所述第二侧面相对设置，所述第二端面高于所述第一端面，谐振腔盖板位于所述第一端面上；

所述腔体(2)的中空结构中具有对称设置的两个金属脊(2-6)，所述金属脊(2-6)由腔体的内侧壁向中空结构中心延伸，且两个金属脊之间具有间隙，所述间隙作为单纤维材料的测试通道(2-7)；

所述谐振腔上盖板(1-1)上具有上侧样品孔(1-3)，所述谐振腔下盖板(1-2)上具有下侧样品孔(1-4)，所述单纤维材料通过上侧样品孔(1-3)，穿过测试通道(2-7)，由下侧样品孔(1-4)穿出；

所述耦合激励装置(3-1)通过所述腔体(2)第三侧面的第一侧壁孔(2-4)伸入所述中空结构中，所述耦合接收装置(3-2)通过所述腔体(2)第四侧面的第二侧壁孔(2-5)伸入所述中空结构中，所述第三侧面和所述第四侧面相对设置，所述腔体(2)的第一侧面和所述腔体(2)的第三侧面垂直设置。

2.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述腔体(2)的第一端面内侧具有第一金属凸台(2-2)，第一端面外侧具有第二金属凸台(2-3)，谐振腔上下盖板通过所述第一金属凸台(2-2)和所述第二金属凸台(2-3)与所述腔体(2)接触。

3.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述腔体(2)的内侧壁(2-1)形状为圆弧形。

4.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述耦合激励装置(3-1)和所述耦合接收装置(3-2)为磁耦合环形式，且环所在平面与所述测试通道(2-7)垂直。

5.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述金属脊(2-6)的形状为梯形。

6.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述腔体(2)的内侧壁(2-1)、所述谐振腔上盖板(1-1)和所述谐振腔下盖板(1-2)均进行表面镀金处理。

7.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述谐振腔上盖板(1-1)和所述谐振腔下盖板(1-2)通过圆周分布的螺丝固定在所述腔体(2)上。

8.根据权利要求1所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置，其特征在于，所述测试通道(2-7)的宽度大于等于0.4mm。

9.一种单纤维介电常数的测试方法，其特征在于，采用权利要求1-8任一项所述的一种具有双脊结构的单纤维介电常数测试装置实现。