[发明专利]一种芯片配置引脚的检测电路、方法

说明书

本发明涉及一种芯片配置引脚的检测电路、方法和系统，该检测电路包括功能档位配置电路、配置引脚、电压比较电路、检测控制单元、采样时间阵列单元和配置识别单元，通过在芯片的配置引脚上设置功能档位配置电路，基于时间检测维度和电压检测维度检测配置引脚以识别功能档位配置电路的电阻值和电容值，从而根据不同组合的电阻值和电容值，实现了芯片不同的功能状态配置，较芯片内部存储体烧码方式更容易且方便实现芯片的多样化功能定制，生产成本和管理成本都大大降低。同时还能够降低单个配置引脚识别多种配置档位的实现难度，大大地扩展了单个引脚可配置的功能档位的数量，减少了芯片引脚的需求量，降低了芯片的封装成本，减小了芯片的体积。

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，特别是涉及一种芯片配置引脚的检测电路、方法。

背景技术

通常情况，相同的一款芯片，在不同的应用场景或者应用方案中，需要对其功能状态进行不同的配置。典型的例子有，一款移动电源管理芯片，需要根据整机方案上搭配的不同电池类型，设置不同的充电目标电压以及电量曲线；一款适配器的快充协议管理芯片，需要根据适配器整机的功率大小，广播不同的电压电流档位；一款多口充电器的通路管理芯片，需要根据方案上不同的接口类型，设置成不同的工作模式。

这种针对不同应用场景或者应用方案的多样化功能定制，往往通过芯片内部存储体烧码的方式来实现。但是，多种不同的码值需求，对芯片的生产管理和销售管理造成极大的不方便。尽管花费大量的人力财力去完善各种管理制度和管理工具，错误烧写码值或者混料的事情仍然时有发生，甚至造成其他无法挽回的损失。

因此亟需一种基于芯片配置引脚的检测电路、方法，以方便对芯片进行管理。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片配置引脚的检测电路、方法，方便对芯片管理。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种芯片配置引脚的检测电路，包括：

功能档位配置电路通过配置引脚连接电压比较电路；

检测控制单元，与所述电压比较电路连接，用于根据时间阵列比较配置引脚电压和参考电压，识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值；

采样时间阵列单元，与所述检测控制单元连接，用于设定对所述配置引脚电压进行采样的时间阵列；

配置识别单元，与所述检测控制单元连接，用于根据所述电阻值和所述电容值配置芯片功能状态。

一种芯片配置引脚的检测方法，包括：

输入恒定电流至功能档位配置电路和配置引脚；

根据时间阵列检测所述配置引脚在各个采样时间点的电压；

将各个采样时间点的电压与参考电压进行比较，得到比较结果；

根据所述比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值；

根据所述电阻值和所述电容值配置芯片功能状态。

一种芯片配置引脚的检测系统，包括：

输入模块，用于输入恒定电流至功能档位配置电路和配置引脚；

检测模块，用于根据时间阵列检测所述配置引脚在各个采样时间点的电压；

比较模块，用于将各个采样时间点的电压与参考电压进行比较，得到比较结果；

识别模块，用于根据所述比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值；

配置模块，用于根据所述电阻值和所述电容值配置芯片功能状态。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：