[发明专利]一种芯片配置引脚的检测电路、方法

权利要求书

1.一种芯片配置引脚的检测电路，其特征在于，包括：

功能档位配置电路通过配置引脚连接电压比较电路；

检测控制单元，与所述电压比较电路连接，用于根据时间阵列比较配置引脚电压和参考电压，识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值；

采样时间阵列单元，与所述检测控制单元连接，用于设定对所述配置引脚电压进行采样的时间阵列；

配置识别单元，与所述检测控制单元连接，用于根据所述电阻值和所述电容值作二维组合，映射到对应的功能状态，实现芯片功能状态的配置。

2.根据权利要求1所述的一种芯片配置引脚的检测电路，其特征在于，

所述功能档位配置电路包括配置电容和配置电阻；

所述配置电容和所述配置电阻并联连接，形成并联支路；

所述并联支路通过所述配置引脚与所述电压比较电路连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片配置引脚的检测电路，其特征在于，N种不同电阻值的所述配置电阻，和M种不同电容值的所述配置电容，实现N*M种功能状态的配置，其中N、M为正整数，N≥2，M≥2。

4.一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，利用权利要求1-3任一项所述的检测电路，包括：

输入电流源电流至功能档位配置电路和配置引脚；

根据时间阵列检测所述配置引脚在各个采样时间点的电压；

将各个采样时间点的电压与参考电压进行比较，得到比较结果；

根据所述比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值；

根据所述电阻值和所述电容值配置芯片功能状态。

5.根据权利要求4所述的一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，所述时间阵列包含采样时间点；

所述采样时间点的个数根据所述功能档位配置电路中的配置电容取值的类型确定，M种配置电容的取值类型确定M个采样时间点，其中M为正整数，M≥2。

6.根据权利要求5所述的一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，所述采样时间点根据所述电流源电流、最低参考电压、最大配置电阻、最小配置电阻和配置电容确定。

7.根据权利要求5所述的一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，所述将各个采样时间点的电压与参考电压进行比较，得到比较结果；根据所述比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值和电容值，具体包括：

依次将前(M-1)个采样时间点对应的所述配置引脚的电压分别与最低参考电压进行比较，得到第一比较结果；

根据所述第一比较结果识别出所述功能档位配置电路的电容值；

将第M个采样时间点的所述配置引脚的电压与参考电压比较，得到第二比较结果；

根据所述第二比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值。

8.根据权利要求7所述的一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，所述依次将前(M-1)个采样时间点对应的所述配置引脚的电压分别与所述最低参考电压进行比较，得到第一比较结果；根据所述第一比较结果识别出所述功能档位配置电路的电容值，具体包括：

将第i个采样时间点作为对比点，其中i≥1，i为正整数；

比较所述对比点的所述配置引脚的电压和所述最低参考电压；

若所述对比点的所述配置引脚的电压大于所述最低参考电压，则所述功能档位配置电路的电容值为第i个配置电容的值；

若所述对比点的所述配置引脚的电压小于所述最低参考电压，则令i=i+1，返回“将第i个采样时间点作为对比点”，直至i=M-2；

比较第(M-1)个采样时间点对应的配置引脚的电压和所述最低参考电压；

若所述第(M-1)个采样时间点对应的所述配置引脚的电压大于所述最低参考电压，则所述功能档位配置电路的电容值为第(M-1)个配置电容的值；

若所述第(M-1)个采样时间点对应的所述配置引脚的电压小于所述最低参考电压，则所述功能档位配置电路的电容值为第M配置电容的值。

9.根据权利要求7所述的一种芯片配置引脚的检测方法，其特征在于，将第M个采样时间点的所述配置引脚的电压与参考电压比较，得到第二比较结果；根据所述第二比较结果识别出所述功能档位配置电路的电阻值，具体包括：

关闭阵列控制开关中的第一个控制开关，其中阵列控制开关用于选择参考电压；

将所述阵列控制开关中的第j个控制开关导通后的配置引脚电压作为待检测电压，其中j≥2，j为正整数；

将第j个参考电压作为比较电压；

比较待检测电压和比较电压的大小；

若待检测电压小于比较电压，则功能档位配置电路的电阻值为第（j-1）个配置电阻的值；

若待检测电压大于比较电压，则令j=j+1，判断j是否等于N，其中N表示配置电阻的取值类型个数，N≥2，N为正整数；

如果j不等于N，则返回“将所述阵列控制开关中的第j个控制开关导通后的配置引脚电压作为待检测电压，其中j≥2，j为正整数；将第j个参考电压作为比较电压”步骤；否则输出功能档位配置电路的电阻值为第j个配置电阻的值。