[发明专利]图像处理方法、装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 202110407834.4 申请日: 2021-04-15
公开(公告)号: CN113079378B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 徐誉萌 申请(专利权)人: 杭州海康威视数字技术股份有限公司
主分类号: H04N19/172 分类号: H04N19/172;H04N19/91;H04N19/42
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 张育英
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:

计算目标图像的第一高频特征图和第一低频特征图;

使用m个卷积模块对所述第一高频特征图和所述第一低频特征图进行处理,得到所述目标图像的第一目标高频特征图和第一目标低频特征图;m是自然数;

将所述第一目标高频特征图和所述第一目标低频特征图输入超先验模型,得到高频边信息码流、低频边信息码流、第一信息和第二信息,所述第一信息是高频特征信息,所述第二信息是低频特征信息;

将所述第一目标高频特征图输入第一上下文模型,得到第三信息,所述第三信息是高频特征信息;根据所述第一信息和所述第三信息计算高频熵参数,使用所述高频熵参数对所述第一目标高频特征图进行熵编码,得到所述目标图像的高频码流;

将所述第一目标低频特征图输入第二上下文模型,得到第四信息,所述第四信息是低频特征信息;根据所述第二信息、以及所述第四信息计算低频熵参数,使用所述低频熵参数对所述第一目标低频特征图进行熵编码,得到所述目标图像的低频码流。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如果m为1,所述使用m个卷积模块对所述第一高频特征图和所述第一低频特征图进行处理,包括:

所述卷积模块将所述第一高频特征图输入步伐为第一数值的第一卷积层,得到第二高频特征图;将所述第一低频特征图输入步伐为第二数值的第一上采样卷积层,得到第二低频特征图;根据所述第二高频特征图和所述第二低频特征图计算得到第三高频特征图;对所述第三高频特征图进行高频特征提取,得到第四高频特征图;将所述第一高频特征图短路连接后得到第五高频特征图;根据所述第四高频特征图和所述第五高频特征图计算得到所述目标图像的第一目标高频特征图;

所述卷积模块将所述第一低频特征图输入步伐为第三数值的第二卷积层,得到第三低频特征图;将所述第一高频特征图输入步伐为第四数值的第一下采样卷积层,得到第六高频特征图;根据所述第三低频特征图和所述第六高频特征图计算得到第四低频特征图;对所述第四低频特征图进行低频特征提取,得到第五低频特征图;将所述第一低频特征图短路连接后得到第六低频特征图;根据所述第五低频特征图和所述第六低频特征图计算得到所述目标图像的第一目标低频特征图。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如果m是大于1的自然数,所述使用m个卷积模块对所述第一高频特征图和所述第一低频特征图进行处理,包括:

所述m个卷积模块串联;对于第2个卷积模块至第m个卷积模块,每个卷积模块将前一个卷积模块输出的第一目标高频特征图和第一目标低频特征图分别作为该卷积模块的第一高频特征图和第一低频特征图进行处理;

所述m个卷积模块中的每个所述卷积模块执行以下处理步骤:

将所述第一高频特征图输入步伐为第一数值的第一卷积层,得到第二高频特征图;将所述第一低频特征图输入步伐为第二数值的第一上采样卷积层,得到第二低频特征图;根据所述第二高频特征图和所述第二低频特征图计算得到第三高频特征图;对所述第三高频特征图进行高频特征提取,得到第四高频特征图;将所述第一高频特征图短路连接后得到第五高频特征图;根据所述第四高频特征图和所述第五高频特征图计算得到所述目标图像的第一目标高频特征图;

将所述第一低频特征图输入步伐为第三数值的第二卷积层,得到第三低频特征图;将所述第一高频特征图输入步伐为第四数值的第一下采样卷积层,得到第六高频特征图;根据所述第三低频特征图和所述第六高频特征图计算得到第四低频特征图;对所述第四低频特征图进行低频特征提取,得到第五低频特征图;将所述第一低频特征图短路连接后得到第六低频特征图;根据所述第五低频特征图和所述第六低频特征图计算得到所述目标图像的第一目标低频特征图。

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