[发明专利]一种驱动电路的测试电路及测试方法

权利要求书

1.一种使用驱动电路的测试电路的测试方法，所述测试电路包括：单片机、数模电压转换芯片、模拟开关和选配电阻模块、运放电路和反馈电压采集电路；

所述单片机通过SPI总线控制所述数模电压转换芯片输出电压；所述电压经所述运放电路调节至合适的输出电压；

所述合适的输出电压经模拟开关和选配电阻模块选择的阻抗、测试端口连接所述测试电路的测试点；

所述反馈电压采集电路采集测试点的反馈电压回传至所述单片机其特征在于；所述方法包括以下步骤：

步骤(1)：所述单片机通过所述数模电压转换芯片、所述运放电路输出指定电压值；

步骤(2)：通过模拟开关和选配电阻模块选择输出阻抗，通过所述反馈电压采集电路采集和采样电路连接的节点电压；

步骤(3)：通过所述反馈电压采集电路采集的反馈电压值结合所述输出指定电压值、输出阻抗、所述采样电路的电路状态可以测量所述采样电路的提拉电阻状态；

步骤(4)：根据所述采样电路的输出电压值、所述反馈电压采集电路采集的反馈电压值可以测量ECU的采样电路工作是否正常。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述单片机通过SPI总线控制所述数模电压转换芯片输出0-2.5V电压输出，通过所述运放电路调节输出0-24V电压。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述反馈电压采集电路包括缓冲器和分压电路。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于：所述分压电路包括第一电阻，第一电阻的输入端为分压器的输入端，第一电阻的输出端为分压电路的输出端，输出端还通第二电阻与电容C的并联结构接地。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述测试端口包括电平采集端口和ADC转换端口。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于；在步骤(2)中，当反馈电压值过小或者满量程时，单片机配置模拟开关选择其它档位的电阻直至反馈电压值在量程范围内。

7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于；在步骤(2)中，应当首先选用电阻值较大的阻抗。