[发明专利]一种阵列基板及其制备方法在审
| 申请号: | 202110395545.7 | 申请日: | 2021-04-13 |
| 公开(公告)号: | CN113192979A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
| 发明(设计)人: | 郑智琳;唐甲 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L27/32;H01L21/77 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 王芳芳 |
| 地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制备 方法 | ||
1.一种阵列基板,包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,其特征在于,还包括:
基板;
若干薄膜晶体管,设于所述基板上,且位于所述显示区,所述薄膜晶体管包括栅极层;
第一金属层,设于所述基板上,且位于所述邦定区,所述第一金属层和所述栅极层同时制备成型,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板一侧的材料为钼、钛、钼钛合金中的至少一种。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,
所述薄膜晶体管还包括:
有源层,设于所述基板上;
栅极绝缘层,设于所述有源层上,所述栅极层设于所述栅极绝缘层上;
介电层,设于所述基板上,并覆盖所述有源层和所述栅极层,所述介电层自所述显示区延伸至所述邦定区,并覆盖所述第一金属层;
源漏电极,设于所述介电层远离所述基板的一侧表面,所述源漏电极贯穿所述介电层并连接至所述有源层。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,还包括:
钝化层,设于所述介电层远离所述基板的一侧表面,且覆盖所述源漏电极,并从所述显示区延伸至所述邦定区;
平坦层,设于所述钝化层远离所述介电层的一侧表面,且从所述显示区延伸至所述邦定区,在所述平坦层对应所述第一金属层处设有一开孔,所述开孔贯穿所述平坦层、所述钝化层和所述介电层;
像素电极,设于所述平坦层远离所述钝化层的一侧表面,所述像素电极部分贯穿所述平坦层和所述钝化层,连接至所述源漏电极;
挡墙,设于所述平坦层远离所述钝化层的一侧表面,且覆盖所述像素电极,所述挡墙对应所述像素电极处设有像素开孔;
发光层,设于所述像素开孔内,并连接至所述像素电极。
4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,还包括
遮光金属层,设于所述基板上,所述遮光金属层对应所述有源层;
缓冲层,设于所述衬底上,且覆盖所述遮光金属层,所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管设于所述缓冲层上。
5.一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,其特征在于,包括以下步骤:
提供一基板;
在所述基板制备若干薄膜晶体管,所述薄膜晶体管对应所述显示区;
在制备所述薄膜晶体管的栅极层时,在所述邦定区同时制备第一金属层,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板的一侧为钼、钛或钼钛合金材料。
6.根据权利要求5所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,制备所述薄膜晶体管和所述第一金属层包括以下步骤:
在所述基板上制备一层半导体材料,图案化所述半导体材料后形成若干半导体单元,所述半导体单元设于所述显示区中;
在基板上制备一层绝缘材料,所述绝缘材料覆盖所述半导体单元,所述绝缘材料自所述显示区延伸至所述邦定区;
在所述绝缘材料上制备叠层结构,所述叠层结构包括依次叠层设置的第一钼钛合金层、铜层、第二钼钛合金层,所述叠层结构自所述显示区延伸至所述邦定区;
在所述叠层结构上制备一层光刻胶,刻蚀所述光刻胶形成若干第一光刻胶单元以及若干第二光刻胶单元,所述第一光刻胶单元对应所述半导体单元,所述第二光刻胶单元设于所述邦定区中;
通过湿法刻蚀所述叠层结构,获得栅极层半成品和第一金属层半成品,其中,所述栅极层半成品对应所述第一光刻胶单元,所述第一金属层半成品对应所述第二光刻胶单元;
通过干刻蚀法刻蚀部分所述光刻胶和部分所述叠层结构,导体化所述半导体单元获得有源层;
去除所有光刻胶,获得裸露的栅极层和裸露的第一金属层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110395545.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:阵列基板及其制备方法、显示装置
- 下一篇:一种用于SCR脱硝的防结晶装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





