[发明专利]流体颗粒尺寸测量方法、系统、设备、介质及产品有效

专利信息
申请号: 202110394753.5 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113188962B 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 兰文杰;玄雪梅 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张芳;黄健
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 流体 颗粒 尺寸 测量方法 系统 设备 介质 产品
【说明书】:

本申请提供一种流体颗粒尺寸测量方法、系统、设备、介质及产品,该方法应用于测量装置;所述方法包括:获取两相流体分散体系流经水平通道的过程中,所述压力传感器在不同时刻采集的压力,所述两相流体分散体系包括连续相介质和离散相介质;根据不同时刻采集的压力,获得测量时长,其中所述测量时长为基于不同时刻采集的压力确定的单次压力正向波动的时长;根据所述测量时长,结合预设的第一公式,计算获得所述两相流体分散体系中离散相介质的流体颗粒直径。本申请的方案,能够降低对不可视设备内流体颗粒尺寸进行测量的成本。

技术领域

本申请涉及化学化工的两相流领域,尤其涉及一种流体颗粒尺寸测量方法、系统、设备、介质及产品。

背景技术

液—液或气—液两相流体分散体系被广泛的应用在化工、医药、食品、材料制备等领域,在这些应用中,流体颗粒尺寸往往是影响应用效果的关键因素之一,因此,流体颗粒尺寸的测量十分重要。

现有技术中,一般对于可视的设备来说,可通过直接进行图像采集获得设备内的流体图像,再利用图像处理软件对该流体图像进行分析,以实现对该设备内的流体颗粒的尺寸测量;对于不可视的设备来说,因为无法直接进行图像采集,所以,需要首先通过过程层析成像、核磁共振成像、超声成像等方式获取流体图像,再利用图像处理软件实现对该设备内的流体颗粒的尺寸测量。

但由于通过过程层析成像、核磁共振成像、超声成像等方式获取流体图像的成本较高,因此,对于不可视的设备来说,目前的流体颗粒尺寸测量的成本较高。

发明内容

本申请提供一种流体颗粒尺寸测量方法、系统、设备、介质及产品,以解决现有技术中对于不可视设备来说,对流体颗粒尺寸进行测量的成本较高的问题。

第一方面,本申请实施例提供一种流体颗粒尺寸测量方法,该方法应用于测量装置,所述测量装置包括呈“T”型结构连接的水平通道和竖直通道,且所述水平通道和竖直通道连通;所述竖直通道的远离水平通道的一端与压力传感器连接;所述方法包括:获取两相流体分散体系流经水平通道的过程中,所述压力传感器在不同时刻采集的压力,所述两相流体分散体系包括连续相介质和离散相介质;根据不同时刻采集的压力,获得测量时长,其中所述测量时长为基于不同时刻采集的压力确定的单次压力正向波动的时长;根据所述测量时长,结合预设的第一公式,计算得到所述两相流体分散体系中离散相介质的流体颗粒直径。

可选地,如上所述的方法,所述两相流体分散体系是将液体流体和待测流体分别按照第一流量和第二流量输入至微设备中进行混合获得的,且所述微设备连接至所述水平通道的入口,以向所述水平通道中输送所述两相流体分散体系;所述第一公式为:

其中,Qc为第一流量,Qd为第二流量,t为单次压力正向波动的时长,π为圆周率,D为水平通道的内径,d为离散相介质的流体颗粒直径。

第二方面,本申请实施例提供一种流体颗粒尺寸测量系统,包括:测量装置、压力传感器以及流体颗粒测量设备;其中,所述测量装置包括呈“T”型结构连接的水平通道和竖直通道,且所述水平通道和竖直通道连通;所述竖直通道的远离水平通道的一端与压力传感器连接;所述压力传感器,连接至所述测量装置中竖直通道的远离水平通道的一端,用于采集两相流体分散体系流经水平通道的过程中不同时刻的压力;所述流体颗粒测量设备,与所述压力传感器连接,用于执行如第一方面所述的方法。

可选地,如上所述的系统,所述系统还包括:废液瓶;所述废液瓶的入口连接至所述水平通道的出口,用于收集从所述水平通道中流出的两相流体分散体系。

可选地,如上所述的系统,所述系统还包括:信号采集卡;所述流体颗粒尺寸测量设备通过所述信号采集卡连接至所述压力传感器,所述信号采集卡用于接收所述压力传感器采集的压力,将所述压力转化为电信号传送至所述流体颗粒测量设备。

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